[实用新型]一种超短激光脉冲波形测量装置

摘要

本实用新型公开了一种超短激光脉冲波形测量装置。所述的装置中，被测的垂直偏振的平行激光束经过分光镜后将光变成透射光和反射光，反射基频光经扩束后被双棱镜分成上下两平行基频光，以对称角度入射到倍频晶体，产生的水平偏振的二倍频光，将时间强度信息转换为强度自相关一维空间信息，所述的二倍频光束与分光镜后的透射光在变频晶体上实现变频，产生三阶相关信号光，将时间强度信息转换为强度三阶相关二维空间信息，最后通过简单的重构技术获得脉冲波形信息。本实用新型的超短激光脉冲波形测量装置成本低、结构紧凑简单，调节方便，可以测量皮秒、飞秒脉冲波形。

主权项

一种超短激光脉冲波形测量装置，其特征是：所述的装置中，在高功率激光脉冲入射方向上设置分光镜（1）；激光脉冲通过分光镜（1）分成透射光和反射光；在分光镜（1）的反射光路上依次设置有反射镜（2）、扩束准直镜（3）、双棱镜（4）、倍频晶体（5）、挡光片Ⅰ（6）；分光镜（1）的反射光经反射镜（2）反射到扩束准直镜（3）进行扩束，得到的扩束光经双棱镜（4）分成上下两平行光，以对称角度入射到倍频晶体（5），在两平行光重叠区域实现倍频转换，产生的水平偏振的二倍频光沿与倍频晶体（5）表面相垂直的方向输出，从倍频晶体（5）透过的剩余两平行基频光束被挡光片Ⅰ（6）吸收；在分光镜（1）的透射光路上依次设置延迟调节器（7）、半波片（8）、变频晶体（9）、挡光片Ⅱ（10）；分光镜（1）的透射光经延迟调节器（7）进行光程延迟，再经半波片（8）将偏振态由垂直偏振转变为水平偏振后投射到变频晶体（9），从变频晶体（9）出射的基频光被挡光片Ⅱ（10）吸收；从半波片（8）出射的基频光与从倍频晶体（5）出射的二倍频光以匹配角度同时投射到变频晶体（9）上，在基频光与二倍频光重叠区域实现变频转换，产生三阶相关信号光，三阶相关信号光沿与变频晶体（9）表面相垂直的方向输出；在透过变频晶体（9）后的二倍频光束方向上依次设置衰减片Ⅰ（11）、CCDⅠ（13）；所述的二倍频光经衰减片Ⅰ（11）进行强度衰减，进入CCDⅠ（13）；在三阶相关信号光方向上依次设置衰减片Ⅱ（12）、CCDⅡ（14）；所述的三阶相关信号光经衰减片Ⅱ（12）进行强度衰减，进入CCDⅡ（14）；所述的CCDⅠ（13）、CCDⅡ（14）分别外接计算机，来自CCDⅠ（13）、CCDⅡ（14）的信号最后进入计算机进行数据处理。