[实用新型]一种颗粒粒度检测装置有效
| 申请号： | 201620296430.7 | 申请日： | 2016-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN205607812U | 公开（公告）日： | 2016-09-28 |
| 发明（设计）人： | 孔明;沈海栋;赵军;郭天太;王道档;刘维;单良;杨瑶;叶婷;贾茜媛;沈永 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种颗粒粒度检测装置，涉及测试技术领域。激光器发出的激光束依次通过扩束准直系统、样品池和分光棱镜，激光束分成两路，一路依次经过偏振片Ⅰ、傅里叶透镜Ⅰ射入光电探测器Ⅰ，另一路依次经过偏振片Ⅱ、傅里叶透镜Ⅱ射入光电探测器Ⅱ，光电探测器Ⅰ和光电探测器Ⅱ分别与A/D转换模块电连接。本实用新型解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本实用新型有益效果为：提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作方便，便于携带，适应在线检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 粒度 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种颗粒粒度检测装置，它包括激光器（1）和A/D转换模块（9），其特征在于：所述激光器（1）发出的激光束依次通过扩束准直系统（3）、样品池（4）和分光棱镜（5），激光束分成两路，一路依次经过偏振片Ⅰ（6）、傅里叶透镜Ⅰ（7）射入光电探测器Ⅰ（8），另一路依次经过偏振片Ⅱ（13）、傅里叶透镜Ⅱ（12）射入光电探测器Ⅱ（11），所述光电探测器Ⅰ（8）和光电探测器Ⅱ（11）分别与A/D转换模块（9）电连接，A/D转换模块（9）电连接有计算机（10）。
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