[实用新型]一种高性能芯片测试夹具有效
| 申请号： | 201620278265.2 | 申请日： | 2016-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN205539072U | 公开（公告）日： | 2016-08-31 |
| 发明（设计）人： | 唐维强 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片技术领域，具体涉及一种高性能芯片测试夹具，包括主体，所述主体正面中部设置有显示屏，所述主体正面左侧设置有电流表，所述电流表下侧分别设置有键盘与电源开关，所述主体顶端左侧与电流表相对应位置设置有外部电源接口，所述主体正面右侧中部设置有芯片测试座，所述芯片测试座上设置有与芯片测试座大小相对应的固定盖。本实用新型的一种高性能芯片测试夹具，采用在主体上设置芯片测试座，将有争议的芯片重新值好焊球后，放到测试座里，重新复现是否芯片真的有问题，方便了我们日常的检测，可以更好的界定芯片的问题根源，使我们在平时使用过程中，可以更加方便的去了解问题，从而可以快速的解决问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 芯片 测试 夹具 | ||
【主权项】：
一种高性能芯片测试夹具，包括主体，所述主体正面中部设置有显示屏，其特征在于：所述主体正面左侧设置有电流表，所述电流表下侧分别设置有键盘与电源开关，所述主体顶端左侧与电流表相对应位置设置有外部电源接口，所述主体正面右侧中部设置有芯片测试座，所述芯片测试座上设置有与芯片测试座大小相对应的固定盖。
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