[实用新型]基材缺陷检测装置和光源装置有效
申请号: | 201620224199.0 | 申请日: | 2016-03-22 |
公开(公告)号: | CN205620325U | 公开(公告)日: | 2016-10-05 |
发明(设计)人: | 许轩兢 | 申请(专利权)人: | 香港商微觉视检测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/01 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李静;马强 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本实用新型公开一种基材缺陷检测装置和光源装置,所述基材缺陷检测装置用以检测一基材,包括一光源装置、一图像获取装置及一控制装置。光源装置包括一第一光源产生装置及一第二光源产生装置。第一光源产生装置具有一第一发光面。第二光源产生装置与第一光源产生装置彼此相对应设置,第二光源产生装置具有一第二发光面。图像获取装置与第一光源产生装置及第二光源产生装置彼此相对应设置,图像获取装置包括一线性图像获取单元。控制装置电连接于图像获取装置、第一光源产生装置及第二光源产生装置。因此,第一光源产生装置及第二光源产生装置能够依次产生投射在基材上的闪烁光源。本实用新型克服了现有技术的不足,达到了快速检测基材的效果。 | ||
搜索关键词: | 基材 缺陷 检测 装置 光源 | ||
【主权项】:
一种基材缺陷检测装置,用以检测一基材,其特征在于,所述基材缺陷检测装置包括:一光源装置,所述光源装置包括:一第一光源产生装置,所述第一光源产生装置具有一第一发光面,所述第一光源产生装置能由所述第一发光面依次发出一具有一第一亮度的光线及一具有一第二亮度的光线,其中所述第一亮度及所述第二亮度所产生的流明数不同;以及一第二光源产生装置,所述第二光源产生装置与所述第一光源产生装置彼此相对应设置,所述第二光源产生装置具有一第二发光面,所述第二光源产生装置能由所述第二发光面依次发出一具有一第三亮度的光线及一具有一第四亮度的光线,其中所述第三亮度及所述第四亮度所产生的流明数不同,其中,具有所述第一亮度的光线、具有所述第二亮度的光线、具有所述第三亮度的光线以及具有所述第四亮度的光线都投射于位于一检测区域内的所述基材上;一图像获取装置,所述图像获取装置与所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置彼此相对应设置,所述图像获取装置包括一用于获取位于所述检测区域内的所述基材的一图像信息的线性图像获取单元;以及一控制装置,所述控制装置电连接于所述图像获取装置,以接收所述图像获取装置所获取到的所述图像信息,所述控制装置电连接于所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置,以控制所述第一光源产生装置及所述第二光源产生装置所产生的亮度;其中,所述图像信息通过所述控制装置的运算,以得到位于所述基材上的一瑕疵区域的一瑕疵信息。
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