[实用新型]一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置有效
| 申请号： | 201620035886.8 | 申请日： | 2016-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN205317659U | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 张霖;原泉;姜宏振;任寰;陈波;杨一;马骅;石振东;马玉荣;冯晓璇;杨晓瑜;马可;李东;刘勇;巴荣声;周信达;郑垠波 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/41 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 赵宇 |
| 地址： | 621900*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及非线性光子学材料和非线性光学测量领域，尤其涉及一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置。本实用新型的目的在于提供一种测量非线性光子学材料光学非线性光谱特性的装置，得到宽波长范围内材料的光学非线性吸收光谱和非线性折射光谱特性。其技术方案为，一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置，包括入射光路、测量光路、监测光路、开孔测量光路、闭孔测量光路、计算机处理系统；入射光路包括依次设置的白光激光光源、波片、偏振片、滤波轮、第一分束镜，白光激光光源产生的入射激光依次经波片、偏振片、滤波轮后由第一分束镜分成两束激光，其中一束激光作为测量光进入测量光路，另一束激光作为监测光进入监测光路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非线性 光子 材料 光谱 特性 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置，其特征在于，包括入射光路、测量光路、监测光路、开孔测量光路、闭孔测量光路、计算机处理系统（15）；所述入射光路包括依次设置的白光激光光源（1）、波片（2）、偏振片（3）、滤波轮（4）、第一分束镜（5），所述白光激光光源（1）产生的入射激光依次经波片（2）、偏振片（3）、滤波轮（4）后由第一分束镜（5）分成两束激光，其中一束激光作为测量光进入测量光路，另一束激光作为监测光进入监测光路；所述测量光经测量光路入射至待测样品（8），所述监测光入射至第一CCD探测器（6）并在第一CCD探测器（6）得到一系列监测光斑；所述测量光经过待测样品（8）后入射至第二分束镜（10）后由第二分束镜（10）分成透射测量光和反射测量光；所述透射测量光、反射测量光分别经开孔测量光路、闭孔测量光路后入射至第二CCD探测器（14）并在第二CCD探测器（14）上得到一系列开孔测量光斑和闭孔测量光斑；所述第一CCD探测器（6）、第二CCD探测器（14）分别与计算机处理系统（15）电连接，所述第二CCD探测器（14）得到的开孔测量光斑和闭孔测量光斑、第一CCD探测器（6）上得到的监测光斑分别传输至计算机处理系统（15）。
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