[实用新型]一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置有效

专利信息
申请号: 201620035886.8 申请日: 2016-01-15
公开(公告)号: CN205317659U 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 张霖;原泉;姜宏振;任寰;陈波;杨一;马骅;石振东;马玉荣;冯晓璇;杨晓瑜;马可;李东;刘勇;巴荣声;周信达;郑垠波 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/41
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 赵宇
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 非线性 光子 材料 光谱 特性 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置,其特征在于,包括入射光路、测量光路、监测光路、开孔测量光路、闭孔测量光路、计算机处理系统(15);所述入射光路包括依次设置的白光激光光源(1)、波片(2)、偏振片(3)、滤波轮(4)、第一分束镜(5),所述白光激光光源(1)产生的入射激光依次经波片(2)、偏振片(3)、滤波轮(4)后由第一分束镜(5)分成两束激光,其中一束激光作为测量光进入测量光路,另一束激光作为监测光进入监测光路;所述测量光经测量光路入射至待测样品(8),所述监测光入射至第一CCD探测器(6)并在第一CCD探测器(6)得到一系列监测光斑;所述测量光经过待测样品(8)后入射至第二分束镜(10)后由第二分束镜(10)分成透射测量光和反射测量光;所述透射测量光、反射测量光分别经开孔测量光路、闭孔测量光路后入射至第二CCD探测器(14)并在第二CCD探测器(14)上得到一系列开孔测量光斑和闭孔测量光斑;所述第一CCD探测器(6)、第二CCD探测器(14)分别与计算机处理系统(15)电连接,所述第二CCD探测器(14)得到的开孔测量光斑和闭孔测量光斑、第一CCD探测器(6)上得到的监测光斑分别传输至计算机处理系统(15)。

2.根据权利要求1所述的一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置,其特征在于,所述测量光路包括依次设置的第一透镜(7)、电动平移台(9)、第二分束镜(10),所述电动平移台(9)上放置有可沿Z方向移动的待测样品(8),所述测量光依次经第一透镜(7)、待测样品(8)后由第二分束镜(10)分成透射测量光和反射测量光;所述开孔测量光路包括小孔光阑(12),所述透射测量光经小孔光阑(12)入射至第二CCD探测器(14);所述闭孔测量光路包括依次设置的反射镜(11)、第二透镜(13),所述反射测量光依次经反射镜(11)、第二透镜(13)入射至第二CCD探测器(14)。

3.根据权利要求1所述的一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置,其特征在于,所述滤波轮(4)上固定有八个窄带滤光片(41),八个窄带滤光片(41)能分别滤过从紫外到近红外范围的八个波长分段的光;所述滤波轮(4)可绕中心轴旋转,每次旋转使一个窄带滤光片(41)处于光路中。

4.根据权利要求2所述的一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置,其特征在于,所述第一分束镜(5)的反射率和透射率均为50%,所述第二分束镜(10)的反射率和透射率均为50%。

5.根据权利要求2所述的一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置,其特征在于,所述小孔光阑(12)设置在待测样品(8)的远场位置,且所述小孔光阑(12)的孔径的尺寸与入射激光远场衍射光斑的尺寸相同。

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