[实用新型]一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置有效

专利信息
申请号: 201620010849.1 申请日: 2016-01-07
公开(公告)号: CN206296818U 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 郑芳兰;姜宏振;刘勇;李东;刘旭;刘斌;陈竹;陈波;杨晓瑜 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: B25B11/00 分类号: B25B11/00
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司51230 代理人: 刘东
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及了一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置,其特征在于包括带有元件容纳腔的夹块、辅助夹片、螺杆和螺孔,所述元件容纳腔的腔壁上设有螺孔,所述螺杆通过螺孔贯穿元件容纳腔的腔壁,所述螺杆朝向元件容纳腔的一端设有辅助夹片,通过调整螺杆的进退带动辅助夹片的进退,用于实现辅助夹片对待检光学元件的检测夹持;所述夹块底部设有卡槽,所述卡槽用于该元件检测夹持装置的固定。该夹持装置可以对不同厚度光学元件进行快速安全夹持。本实用新型保持了光学元件在运输、储存、转运、检验和表面观察等操作过程中的洁净传递,减小了光学元件表面的二次污染,同时该装置有体积小、结构简单的特点。
搜索关键词: 一种 用于 不同 厚度 光学 元件 检测 夹持 装置
【主权项】:
一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置,其特征在于,包括带有元件容纳腔(5)的夹块(1)、辅助夹片(2)、螺杆(3)和螺孔(6),所述元件容纳腔(5)的腔壁上设有螺孔(6),所述螺杆(3)通过螺孔(6)贯穿元件容纳腔(5)的腔壁,所述螺杆(3)朝向元件容纳腔(5)的一端设有辅助夹片(2)。
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