[发明专利]确定表面缺陷的方法和计算机程序产品在审

专利信息
申请号: 201611273021.6 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN106932401A 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 雷恩·泽姆里奇;弗莱德海姆·卡斯特尔 申请(专利权)人: 佛吉亚内饰系统有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01B21/30
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 吕俊刚,杨薇
地址: 德国哈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及确定表面缺陷的方法和计算机程序产品。该方法包括以下步骤从第一多行标称点确定标称参考点的标称参考行(SR),其中标称参考点是相对于主方向横向地延伸的多行标称点的标称点中的一个点的相应高度坐标值的平均值;形成第一近似函数(L1),其作为标称参考行的标称参考点的发展的近似;通过表面测量装置在内衬部件的副本的实际表面处确定实际点的第二数据集;确定实际参考点的实际参考行,实际参考点沿着多行实际点延伸,其中实际参考点分别包括多行实际点的实际点序列的各个实际点的高度坐标值的平均值;形成第二近似函数,其作为实际参考行的实际参考点的发展的近似;比较第一近似函数和第二近似函数并确定表面缺陷。
搜索关键词: 确定 表面 缺陷 方法 计算机 程序 产品
【主权项】:
一种用于确定内衬部件(1)的实际表面(1a)上的表面缺陷的方法,其中,所述方法基于标称表面(1a)的第一近似函数(L1),并且其中,所述方法包括以下步骤:(a)通过表面测量装置,在所述内衬部件的副本的实际表面处,确定沿着彼此延展并且彼此相距一定距离的多行实际点的实际值数据集,其中,分别在如下项中执行所述确定:在具有沿着所述标称表面的或所述实际表面的延伸的两个方向的空间坐标中;和在相对于所述延伸的方向横向地延展的高度坐标中,(b)确定实际参考点的实际参考行,所述实际参考点沿着所述多行实际点延展,其中,所述实际参考点分别包括:所述多行实际点的实际点序列的各自实际点的高度坐标值的平均值,其中,所述多行实际点在偏离主方向的方向上延伸,(c)形成第二近似函数,所述第二近似函数作为所述实际参考行的实际参考点的发展的近似,(d)根据所述第一近似函数和所述第二近似函数来形成标准曲线,并通过应用于所述标准曲线的标准来确定表面缺陷。
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