[发明专利]确定表面缺陷的方法和计算机程序产品

权利要求书

1.一种用于确定内衬部件(1)的实际表面(1a)上的表面缺陷的方法，其中，所述方法基于标称表面(1a)的第一近似函数(L1)，并且其中，所述方法包括以下步骤：

(a)通过表面测量装置，在所述内衬部件的副本的实际表面处，确定沿着彼此延展并且彼此相距一定距离的多行实际点的实际值数据集，其中，分别在如下项中执行所述确定：在具有沿着所述标称表面的或所述实际表面的延伸的两个方向的空间坐标中；和在相对于所述延伸的方向横向地延展的高度坐标中，

(b)确定实际参考点的实际参考行，所述实际参考点沿着所述多行实际点延展，其中，所述实际参考点分别包括：所述多行实际点的实际点序列的各自实际点的高度坐标值的平均值，其中，所述多行实际点在偏离主方向的方向上延伸，

(c)形成第二近似函数，所述第二近似函数作为所述实际参考行的实际参考点的发展的近似，

(d)根据所述第一近似函数和所述第二近似函数来形成标准曲线，并通过应用于所述标准曲线的标准来确定表面缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述表面(1a)的标称形式的所述第一近似函数(L1)通过以下步骤来确定：

-根据沿着彼此并且沿着主方向延展的多行标称点，确定标称参考点的标称参考行(SR)，所述标称参考点沿着所述多行标称点延展，其中，所述标称参考点分别包括：相对于所述主方向横向地延伸的标称点的序列的各个标称点的高度坐标值的平均值，

-形成所述第一近似函数(L1)，所述第一近似函数(L1)作为所述标称参考行的标称参考点的发展的近似。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述第一近似函数(L1)或所述第二近似函数(L2)或这些函数两者通过以下函数中的一个或多个来形成：

-近似多项式函数，

-样条函数，

-B样条函数，

-非均匀有理B样条函数。

4.根据权利要求1所述的方法，

-其中，通过沿着相应主方向的、所述第一近似函数(L1)的值和所述第二近似函数(L2)的值之间在彼此对应的位置处的差的形成，来产生所述标准曲线，

-其中，识别缺陷的位置，在所述缺陷的所述位置处，作为缺陷标准，除以从沿着相应主方向的检查区域的长度导出的长度值后的、在沿着所述相应主方向的检查区域的长度上的差的积分超过预定阈值。

5.根据权利要求1所述的方法，

-其中，通过沿着相应主方向的、所述第一近似函数(L1)的和所述第二近似函数(L2)的微分函数(z’_soll(x)，z’_ist(x))的值的、在彼此对应的位置处的差的形成，来产生所述标准曲线，

-其中，识别缺陷的位置，在所述缺陷的所述位置处，作为缺陷标准，所述微分函数的值的差超过预定阈值。

6.根据权利要求1所述的方法，

-其中，所述标准曲线是根据所述第一近似函数(L1)和所述第二近似函数(L2)的差而得到的差分曲线，

-其中，所述缺陷标准是一阈值，

-其中，通过确定超过所述阈值的偏差，来执行表面缺陷的确定。

7.根据权利要求1所述的方法，

-其中，所述标准曲线是根据所述第一近似函数(L1)和所述第二近似函数(L2)的差而得到的差分曲线，

-其中，所述缺陷标准是一阈值，

-其中，通过确定所述第一近似函数(L1)的导数和所述第二近似函数(L2)的导数之间的偏差，来执行表面缺陷的确定，所述偏差超过所述阈值。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述标称点的高度坐标分别是网格点的高度坐标，所述网格点位于由如下空间坐标限定的平面中，所述空间坐标具有沿着所述标称表面的延伸的两个方向。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，所述实际点的高度坐标分别是网格点的高度坐标，所述网格点位于如下平面内，通过如下空间坐标来限定所述平面，所述空间坐标具有沿着所述实际表面的延伸的两个方向。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，用于所述实际点的坐标系的姿态由具有三个实际点的至少三个标称点的近似识别来限定。

11.一种计算机程序产品，在所述计算机程序产品中，实施根据权利要求1所述的方法的步骤。