[发明专利]一种用于阵列基板的测试电路及制作方法在审
| 申请号： | 201611244572.X | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN106782241A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 马亮;赵莽 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 | 代理人： | 吴大建 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于阵列基板的测试电路及制作方法，该测试电路包括用于连接阵列测试焊盘和阵列静电测试部的绕线电阻，其中，绕线电阻由设置于基板上的位于两个不同层的金属绕线连接形成。本发明可以充分利用三维空间，利用多层金属的换线方式提升绕线电阻的阻值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 阵列 测试 电路 制作方法 | ||
【主权项】：
一种用于阵列基板的测试电路，包括用于连接阵列测试焊盘和阵列静电测试部的绕线电阻，其中，所述绕线电阻由设置于基板上的位于两个不同层的金属绕线连接形成。
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