[发明专利]LDMOS晶体管在审

专利信息
申请号: 201611242583.4 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN107123678A 公开(公告)日: 2017-09-01
发明(设计)人: 吴俊庆;王柏仁 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/40
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种MOS晶体管,包括衬底、第一区域、第二区域、源极区、漏极区、有源栅极堆叠件和伪栅极堆叠件。衬底具有第一导电性。具有第一导电性的第一区域形成在衬底中。具有第二导电性的第二区域形成在衬底中并且与第一区域相邻。具有第二导电性的源极区形成在第一区域中。具有第二导电性的漏极区形成在第二区域中。有源栅极堆叠件设置在第一区域上。伪栅极堆叠件设置在第二区域上,并且伪栅极堆叠件电连接至可变电压。本发明实施例涉及LDMOS晶体管。
搜索关键词: ldmos 晶体管
【主权项】:
一种MOS晶体管,包括:第一导电性的衬底;第一导电性的第一区域,形成在所述衬底中;第二导电性的第二区域,形成在所述衬底中,所述第二区域与所述第一区域相邻;第二导电性的源极区,形成在所述第一区域中;第二导电性的漏极区,形成在所述第二区域中;有源栅极堆叠件,设置在所述第一区域上;以及伪栅极堆叠件,设置在所述第二区域上,所述伪栅极堆叠件电连接至可变电压。
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