[发明专利]基于CMOS GOA的测试电路有效
申请号: | 201611232128.6 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN106782240B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 张启沛;赵莽 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;武岑飞 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 提供了一种基于CMOS GOA的测试电路,包括:第一PMOS晶体管;第二PMOS晶体管;第一NMOS晶体管;第二NMOS晶体管;反相器,其中,第一PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接,第二PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接,第一PMOS晶体管的第一端与高电平连接,第一PMOS晶体管的第二端与第二PMOS晶体管的第一端连接,第二PMOS晶体管的第二端与反相器的输入端连接,其中,n为级传信号的总数量,其中,第一NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接,第二NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接,第一NMOS晶体管的第一端和第二NMOS晶体管的第一端与反相器的输入端连接,第一NMOS晶体管的第二端和第二NMOS晶体管的第二端与低电平连接。 | ||
搜索关键词: | 基于 cmos goa 测试 电路 | ||
【主权项】:
一种基于CMOS GOA的测试电路,包括:第一PMOS晶体管;第二PMOS晶体管;第一NMOS晶体管;第二NMOS晶体管;反相器,其中,第一PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接,第二PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接,第一PMOS晶体管的第一端与高电平连接,第一PMOS晶体管的第二端与第二PMOS晶体管的第一端连接,第二PMOS晶体管的第二端与反相器的输入端连接,其中,n为级传信号的总数量,其中,第一NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接,第二NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接,第一NMOS晶体管的第一端和第二NMOS晶体管的第一端与反相器的输入端连接,第一NMOS晶体管的第二端和第二NMOS晶体管的第二端与低电平连接。
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