[发明专利]基于CMOS GOA的测试电路

权利要求书

1.一种基于CMOS GOA的测试电路，包括：

第一PMOS晶体管；

第二PMOS晶体管；

第一NMOS晶体管；

第二NMOS晶体管；

反相器，

其中，第一PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接，第二PMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接，第一PMOS晶体管的第一端与高电平连接，第一PMOS晶体管的第二端与第二PMOS晶体管的第一端连接，第二PMOS晶体管的第二端与反相器的输入端连接，其中，n为级传信号的总数量，

其中，第一NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第一级传信号端连接，第二NMOS晶体管的栅极与CMOS GOA的第n级传信号端连接，第一NMOS晶体管的第一端和第二NMOS晶体管的第一端与反相器的输入端连接，第一NMOS晶体管的第二端和第二NMOS晶体管的第二端与低电平连接，

其中，在所述CMOS GOA进行正向扫描的情况下，所述测试电路输出包括第一级级传信号和最后一级级传信号的测试输出结果；并且在所述CMOS GOA进行反向扫描的情况下，所述测试电路输出包括第一级级传信号和所述最后一级级传信号的测试输出结果。

2.如权利要求1所述的测试电路，还包括：

第三NMOS晶体管；

第四NMOS晶体管，

其中，在第一NMOS晶体管的第一端和第二NMOS晶体管的第一端与反相器的输入端之间分别连接第三NMOS晶体管和第四NMOS晶体管，

其中，第三NMOS晶体管的栅极与第一扫描方向控制端连接，第四NMOS晶体管的栅极与第二扫描方向控制端连接，第三NMOS晶体管的第一端和第四NMOS晶体管的第一端与反相器的输入端连接，第三NMOS晶体管的第二端与第一NMOS晶体管的第一端连接，第四NMOS晶体管的第二端与第二NMOS晶体管的第一端连接。

3.如权利要求1或2所述的测试电路，其中，当CMOS GOA正向扫描时，第一级传信号端输出第一级级传信号，第n级传信号端输出最后一级级传信号，

其中，当CMOS GOA反向扫描时，第一级传信号端输出最后一级级传信号，第n级传信号端输出第一级级传信号。

4.如权利要求1所述的测试电路，其中，反相器的输出端输出包括第一级传信号端和第n级传信号端两者的信号的测试输出信号。

5.如权利要求2所述的测试电路，其中，当CMOS GOA正向扫描时，第一扫描方向控制端输出低电平，第二扫描方向控制端输出高电平，

其中，当CMOS GOA反向扫描时，第一扫描方向控制端输出高电平，第二扫描方向控制端输出低电平。

6.如权利要求2所述的测试电路，其中，当CMOS GOA正向扫描时，反相器的输出端输出包括第n级传信号端的信号的测试输出信号，

其中，当CMOS GOA反向扫描时，反相器的输出端输出包括第一级传信号端的信号的测试输出信号。