[发明专利]电容检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611191663.1 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN108226649B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 袁中平;郑明德;杨立宇 申请(专利权)人: 十速兴业科技(深圳)有限公司;海速芯(无锡)科技有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙) 32330 代理人: 刘刚
地址: 518048 广东省深圳市福田区益*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种电容检测装置与方法,用以于包括多个检测子时间的检测时间内获得感应电容的电容值,其中电容检测装置与方法所使用的可变储存电容的电容值于多个检测子时间内并不相同。电容检测装置与方法于每一个检测子时间内获得对应的计数值。电容检测装置与方法根据多个计数值的总计数值获得感应电容的电容值。电容检测装置与方法所使用的可变储存电容可以整合于单一芯片,且相较于传统将储存电容整合于单一芯片的作法,其具有较高的分辨率。
搜索关键词: 电容 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种电容检测装置,其特征在于,包括:至少一电容检测电路,用以于包括多个检测子时间的一检测时间内获得一感应电容的一电容值,其中该电容检测电路包括一可变储存电容,且该可变储存电容的一电容值于所述检测子时间内并不相同,于每一个检测子时间内,该电容检测电路用以进行:步骤a,提供一放电路径将该可变储存电容降低至一第三特定电压;步骤b,提供一充电路径将该感应电容充电至一第一特定电压;步骤c,提供一电荷转移路径将该感应电容储存的电荷转移到该可变储存电容;以及步骤d,重复该步骤b、c,直到一可变储存电容电压提升到一第二特定电压,并获得重复该步骤b、c的一计数值,其中该第二特定电压小于或等于该第一特定电压;其中该电容检测电路用以根据所述检测子时间的所述计数值的一总计数值获得该感应电容的该电容值。
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