[发明专利]用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统有效

专利信息
申请号: 201611190150.9 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN106646045B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 刘宝殿;周镒;张博均;董恩然;卢民牛;屈鹏飞 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;王涛
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统,该系统包括:第一转台;第二转台;第一天线支架的位置与第一转台边缘的距离的最小值为3米,第一天线支架上的天线接收第一转台上的待测试设备的测试信号,对第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试;第二天线支架的位置与第二转台边缘的距离的最小值为10米,第二天线支架上的天线接收第二转台上的待测试设备的测试信号,对第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试;测试切换设备接收第一天线支架上的天线的测试信号和第二天线支架上的天线的测试信号,将第一天线支架上的天线的测试信号或第二天线支架上的天线的测试信号输出。
搜索关键词: 天线支架 测试信号 待测试设备 天线 低频辐射 测试 半电波暗室 天线接收 转台边缘 转台 测试切换 高频辐射 设备接收 输出
【主权项】:
1.一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统,其特征在于,包括:第一转台,用于承载待测试设备;第二转台,用于承载待测试设备,其中,所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上,10米法半电波暗室为长方形,所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边,所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径;第一天线支架,所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米,所述第一天线支架用于承载天线,该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号,对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试,其中,所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线,在所述第一测试轴线上铺设吸波材料;第二天线支架,所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米,所述第二天线支架用于承载天线,该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号,对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试;所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米,所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号,对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试,其中,所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线,所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线,所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度,所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧;测试切换设备,与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接,用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号,将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。
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