[发明专利]用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统

说明书

本发明实施例提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，该系统包括：第一转台；第二转台；第一天线支架的位置与第一转台边缘的距离的最小值为3米，第一天线支架上的天线接收第一转台上的待测试设备的测试信号，对第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试；第二天线支架的位置与第二转台边缘的距离的最小值为10米，第二天线支架上的天线接收第二转台上的待测试设备的测试信号，对第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；测试切换设备接收第一天线支架上的天线的测试信号和第二天线支架上的天线的测试信号，将第一天线支架上的天线的测试信号或第二天线支架上的天线的测试信号输出。

技术领域

本发明涉及电磁兼容测试技术领域，特别涉及一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统。

背景技术

对于10m(米)法半电波暗室主要用于辐射骚扰测试，最初只用于1GHz以下的辐射骚扰测试，随着标准要求的提升，辐射骚扰测试频率提升到了6GHz，要求在1GHz以上在全电波暗室或半电波暗室中铺设吸波材料进行测试。即30MHz-1GHz低频测试要求使用半电波暗室，测试距离为10m或3m；1GHz-6GHz高频测试要求使用全电波暗室或在半电波暗室中铺设吸波材料，测试距离为3m。当使用10m法半电波暗室进行辐射骚扰高低频测试时，传统的方法是在10m距离测试低频，当测试高频时，将天线移到3m测试距离，铺设吸波材料，变换测试系统，然后再进行高频测试。测试低频时再恢复到10m测试距离，将吸波材料取出，恢复到低频测试系统，这样不断变换测试场地的布置和测试系统进行测试。即存在高低频辐射测试不能同时兼顾的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，以解决现有技术中10m法半电波暗室对高低频辐射测试不能同时兼顾的技术问题。该系统包括：第一转台，用于承载待测试设备；第二转台，用于承载待测试设备，其中，所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上，10米法半电波暗室为长方形，所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边，所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径；第一天线支架，所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米，所述第一天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试，其中，所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线，在所述第一测试轴线上铺设吸波材料；第二天线支架，所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线，所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线，所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度，所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧；测试切换设备，与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接，用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号，将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。

在一个实施例中，所述第一转台的直径为3米，所述第二转台的直径为1.2米。

在一个实施例中，所述第一转台的中心点与所述第二转台的中心点之间的距离为2.3米，所述第一转台的边缘与所述第二转台的边缘之间距离的最小值为0.2米。

在一个实施例中，所述吸波材料关于所述第一测试轴线对称铺设。