[发明专利]用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统

权利要求书

1.一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，包括：

第一转台，用于承载待测试设备；

第二转台，用于承载待测试设备，其中，所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上，10米法半电波暗室为长方形，所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边，所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径；

第一天线支架，所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米，所述第一天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试，其中，所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线，在所述第一测试轴线上铺设吸波材料；

第二天线支架，所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线，所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线，所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度，所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧；

测试切换设备，与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接，用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号，将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。

2.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述第一转台的直径为3米，所述第二转台的直径为1.2米。

3.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述第一转台的中心点与所述第二转台的中心点之间的距离为2.3米，所述第一转台的边缘与所述第二转台的边缘之间距离的最小值为0.2米。

4.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述吸波材料关于所述第一测试轴线对称铺设。

5.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，在第一转台边缘上距离所述第二转台的中心最远的点做第一切线，半电波暗室内邻近该第一切线且和该第一切线平行的墙体上的吸波材料与所述第一切线之间的距离为4.2米；在第二转台边缘上距离所述第一转台的中心最远的点做第二切线，半电波暗室内邻近该第二切线且和该第二切线平行的墙体上的吸波材料与所述第二切线之间的距离为4.6米。

6.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述测试切换设备为射频开关。

7.如权利要求1至6中任一项所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，还包括：

第三天线支架，在所述第一测试轴线的远离所述第一转台方向的延长线上，所述第三天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第三天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；

所述测试切换设备，还用于与所述第三天线支架上的天线连接，用于接收所述第三天线支架上的天线的测试信号。

8.如权利要求1至6中任一项所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，还包括：

第四天线支架，所述第四天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第四天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第四天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第三测试轴线；

所述测试切换设备，还用于与所述第四天线支架上的天线连接，用于接收所述第四天线支架上的天线的测试信号。