[发明专利]具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法有效

专利信息
申请号: 201611186111.1 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN106940309B 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 林鼎晸;严大任;李璧伸;黄致豪 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N30/90
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法。该具有薄层层析的拉曼检测芯片包含一硅基底,包含一平坦部及配置于该平坦部之上的多个纳米线,其中每一纳米线具有一顶端表面及一侧壁;以及,一金属层覆盖该纳米线的顶端表面及至少部分侧壁,其中该纳米线的总长度L为5μm至15μm。
搜索关键词: 具有 薄层 层析 检测 芯片 分离 分析 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院,未经财团法人工业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611186111.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top