[发明专利]一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置有效
| 申请号： | 201611181574.9 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108206044B | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 郭亮;李洁;赵锋;田辉;刘述;丁苗苗 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电信研究院 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 谢安昆;宋志强 |
| 地址： | 100191 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，方法包括：配置测试参数和采集参数；根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 固态 硬盘 饱和 写入 性能 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法，应用于服务器，其特征在于，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该方法包括：配置测试参数和采集参数；根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
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