[发明专利]一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201611181574.9 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN108206044B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 郭亮;李洁;赵锋;田辉;刘述;丁苗苗 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信研究院
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 谢安昆;宋志强
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 固态 硬盘 饱和 写入 性能 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法,应用于服务器,其特征在于,所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口,该方法包括:

配置用于固态硬盘的饱和写入性能测试的测试参数和用于固态硬盘的饱和写入性能采集的采集参数;

根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入;

在对固态硬盘进行饱和写入的过程中,根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能;

根据预设时间内采集到的性能数据,确定固态硬盘的饱和写入性能;

其中,

所述测试参数包括:写入块大小和写入数据量;

根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入的方法为:将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量,持续对固态硬盘进行写入操作,直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于;

所述采集参数包括:采集频率;

根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能的方法为:以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

根据预设时间内采集到的性能数据,确定固态硬盘的饱和写入性能的方法为:计算所有采集到的性能数据的均方差,将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。

4.根据权利要求1-3任一权项所述的方法,其特征在于,

所述服务器使用VGA连接线连接外置的结果显示模块;

确定固态硬盘的饱和写入性能之后,进一步包括:如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值,则确定固态硬盘写入正常,将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示,否则,确定固态硬盘写入异常,将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。

5.一种测试固态硬盘饱和写入性能的装置,应用于服务器,其特征在于,所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口,该装置包括:

配置单元,用于配置用于固态硬盘的饱和写入性能测试的测试参数和用于固态硬盘的饱和写入性能采集的采集参数;

写入单元、用于根据配置单元配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入;

采集单元,用于在写入单元对固态硬盘进行饱和写入的过程中,根据配置单元配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能;

计算单元,用于根据采集单元预设时间内采集到的性能数据,确定固态硬盘的饱和写入性能;

其中,

所述测试参数包括:写入块大小和写入数据量;

所述写入单元,根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入时,用于:将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量,持续对固态硬盘进行写入操作,直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于;

所述采集参数包括:采集频率;

所述采集单元,根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能时,用于:以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。

7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,

所述计算单元,根据预设时间内采集到的性能数据,确定固态硬盘的饱和写入性能时,用于:计算所有采集到的性能数据的均方差,将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。

8.根据权利要求5-7任一权项所述的装置,其特征在于,该装置还包括输出单元;

所述服务器使用VGA连接线连接外置的结果显示模块;

所述输出单元,用于计算单元确定固态硬盘的饱和写入性能之后,如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值,则确定固态硬盘写入正常,将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示,否则,确定固态硬盘写入异常,将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。

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