[发明专利]一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置

说明书

本发明提供了一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，方法包括：配置测试参数和采集参数；根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。

技术领域

本发明涉及信息技术领域，特别涉及一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置。

背景技术

固态硬盘(Solid State Drives)，简称固盘，是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。

固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等领域。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置，能够测试得到固态硬盘的饱和写入性能。

为了达到上述目的，本发明提供了了如下技术方案：

一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该方法包括：

配置测试参数和采集参数；

根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；

在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；

根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。

一种测试固态硬盘饱和写入性能的装置，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该装置包括：

配置单元，用于配置测试参数和采集参数；

写入单元、用于根据配置单元配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；

采集单元，用于在写入单元对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置单元配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；

计算单元，用于根据采集单元预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。

由上面的技术方案可知，本发明中，通过对固态硬盘进行持续的写入操作，在写入固态硬盘的过程中采集固态硬盘的饱和写入性能，并根据多次采集到的性能数据确定固态硬盘的饱和写入性能。

附图说明

图1是本发明实施例测试固态硬盘的饱和写入性能的设备连接方式示意图；

图2是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的方法流程图；

图3是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的装置的结果示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图并据实施例，对本发明的技术方案进行详细说明。

本发明中，为了测试固态硬盘的饱和写入性能，将一台服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口上，根据固态硬盘的类型不同，物理接口也不相同，具体有SATA、SAS、PCIe、M.2等，相应的连接线也不相同；另外，还将服务器连接到一结果显示模块上，结果显示模块用于显示固态硬盘的饱和写入性能的测试结果；具体连接方式如图1所示，其中，服务器与固态硬盘之间的连接线由固态硬盘的物理接口类型确定，固态硬盘可以内置于服务器中，也可以外置于服务器，服务器和结果显示模块之间可以使用VGA连接线相连。