[发明专利]用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备有效
| 申请号： | 201611170626.2 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN108204861B | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 唐柳平;邵延胜 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备，所述测温装置包括：测温治具，测温治具上设有适于插入PTC芯体的多个第一芯体定位槽，测温治具具有用于连接PTC芯体的正极的正极探测部和用于连接PTC芯体的负极的负极探测部；温度测针组件，温度测针组件包括温度正极测针和温度负极测针，温度正极测针适于电连接正极探测部，温度负极测针适于电连接负极探测部；红外热像仪，红外热像仪适于与测温治具相对，红外热像仪用于获得位于多个第一芯体定位槽中的PTC芯体的红外热像图。根据本发明的用于检测PTC芯体的测温装置，可以同时检测多个PTC芯体，检测效率和检测精度较高，安全可靠性好。 | ||
| 搜索关键词： | 芯体 正极 测针 负极 测温装置 测温 治具 检测 红外热像仪 探测 检测设备 电连接 定位槽 安全可靠性 红外热像图 组件包括 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测PTC芯体的测温装置，其特征在于，包括：测温治具，所述测温治具上设有适于插入PTC芯体的多个第一芯体定位槽，所述测温治具具有用于连接PTC芯体的正极的正极探测部和用于连接PTC芯体的负极的负极探测部；温度测针组件，所述温度测针组件包括温度正极测针和温度负极测针，所述温度正极测针适于电连接所述正极探测部，所述温度负极测针适于电连接所述负极探测部；红外热像仪，所述红外热像仪适于与所述测温治具相对，所述红外热像仪用于获得位于所述多个第一芯体定位槽中的PTC芯体的红外热像图；所述测温治具包括：绝缘定位组件，所述多个第一芯体定位槽形成在所述绝缘定位组件上；正极测试组件和负极测试组件，所述正极测试组件和所述负极测试组件均设在所述绝缘定位组件内，所述正极探测部设置于所述正极测试组件上，所述负极探测部设置于所述负极测试组件上，其中，所述正极测试组件和所述负极测试组件相对可活动以导通或断开位于所述第一芯体定位槽内的PTC芯体。
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