[发明专利]用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备

说明书

本发明公开了一种用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备，所述测温装置包括：测温治具，测温治具上设有适于插入PTC芯体的多个第一芯体定位槽，测温治具具有用于连接PTC芯体的正极的正极探测部和用于连接PTC芯体的负极的负极探测部；温度测针组件，温度测针组件包括温度正极测针和温度负极测针，温度正极测针适于电连接正极探测部，温度负极测针适于电连接负极探测部；红外热像仪，红外热像仪适于与测温治具相对，红外热像仪用于获得位于多个第一芯体定位槽中的PTC芯体的红外热像图。根据本发明的用于检测PTC芯体的测温装置，可以同时检测多个PTC芯体，检测效率和检测精度较高，安全可靠性好。

技术领域

本发明涉及芯体检测技术领域，尤其是涉及一种用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备。

背景技术

相关技术中，PTC(Positive Temperature Coefficient，正温度系数)芯体测电阻采用的是万用表逐个测量，而测温时采用的方法是：简易测温治具夹持1片PTC芯体两侧铝粉层的面，且治具引出电源正负极对其通电，通过手持式测温仪(或万用表)的测温探头接触PTC芯体并用高温绝缘胶布固定，以使探头与PTC芯体温度变化保持一致来进行温度的测量。然而上述测量方式存在以下问题：一是每次固定后探头与PTC芯体的接触状态不同，导致测试结果存在较大偏差；二是单次仅能测试一个PTC芯体，特征数据不能自动保存，效率极低；三是装置简陋，需要手动安装芯体与探头，为得到尽可真实的表面温度，探头和电极捆绑在一起，使电极的危险电压直接传导至探头及测温仪表，若通路上绝缘破坏，则极易对测试人员造成电击事故。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明在于提出一种用于检测PTC芯体的测温装置，测温装置可以同时检测多个PTC芯体，检测效率高。

本发明还提出一种具有上述测温装置的检测设备。

根据本发明第一方面的用于检测PTC芯体的测温装置，包括：测温治具，所述测温治具上设有适于插入PTC芯体的多个第一芯体定位槽，所述测温治具具有用于连接PTC芯体的正极的正极探测部和用于连接PTC芯体的负极的负极探测部；温度测针组件，所述温度测针组件包括温度正极测针和温度负极测针，所述温度正极测针适于电连接所述正极探测部，所述温度负极测针适于电连接所述负极探测部；红外热像仪，所述红外热像仪适于与所述测温治具相对，所述红外热像仪用于获得位于所述多个第一芯体定位槽中的PTC芯体的红外热像图。

根据本发明的用于检测PTC芯体的测温装置，可以同时检测多个PTC芯体，检测效率和检测精度较高，安全可靠性好。

在一些实施例中，所述温度测针组件在第一准备位置和第一测试位置之间可移动，所述温度测针组件在所述第一测试位置时所述温度正极测针适于电连接所述正极探测部且所述温度负极测针适于电连接所述负极探测部，所述温度测针组件在所述第一准备位置时所述温度正极测针与所述正极探测部断开和/或所述温度负极测针与所述负极探测部断开。

在一些实施例中，所述测温装置包括测温支座，所述温度测针组件设在所述测温支座上，所述测温支座上设有用于驱动所述温度测针组件移动的第一驱动件，所述第一驱动件与所述温度测针组件相连用于驱动所述温度测针组件在所述第一准备位置和所述第一测试位置之间移动。

在一些实施例中，所述温度测针组件与所述第一驱动件之间连接有温度测针导向杆，所述温度测针导向杆沿上下方向可移动地设在所述测温支座上，所述温度测针导向杆与所述测温支座之间设有直线轴承。

在一些实施例中，所述第一驱动件为可调行程气缸。

在一些实施例中，所述测温装置包括测温支座，所述红外热像仪沿上下方向可移动地设在所述测温支座上并适于与所述测温治具相对设置。