[发明专利]用于检测PTC芯体的测温装置和具有其的检测设备有效
申请号: | 201611170626.2 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN108204861B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 唐柳平;邵延胜 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02;G01R27/02 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯体 正极 测针 负极 测温装置 测温 治具 检测 红外热像仪 探测 检测设备 电连接 定位槽 安全可靠性 红外热像图 组件包括 | ||
1.一种用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,包括:
测温治具,所述测温治具上设有适于插入PTC芯体的多个第一芯体定位槽,所述测温治具具有用于连接PTC芯体的正极的正极探测部和用于连接PTC芯体的负极的负极探测部;
温度测针组件,所述温度测针组件包括温度正极测针和温度负极测针,所述温度正极测针适于电连接所述正极探测部,所述温度负极测针适于电连接所述负极探测部;
红外热像仪,所述红外热像仪适于与所述测温治具相对,所述红外热像仪用于获得位于所述多个第一芯体定位槽中的PTC芯体的红外热像图;
所述测温治具包括:
绝缘定位组件,所述多个第一芯体定位槽形成在所述绝缘定位组件上;
正极测试组件和负极测试组件,所述正极测试组件和所述负极测试组件均设在所述绝缘定位组件内,所述正极探测部设置于所述正极测试组件上,所述负极探测部设置于所述负极测试组件上,
其中,所述正极测试组件和所述负极测试组件相对可活动以导通或断开位于所述第一芯体定位槽内的PTC芯体。
2.根据权利要求1所述的用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,所述温度测针组件在第一准备位置和第一测试位置之间可移动,所述温度测针组件在所述第一测试位置时所述温度正极测针适于电连接所述正极探测部且所述温度负极测针适于电连接所述负极探测部,所述温度测针组件在所述第一准备位置时所述温度正极测针与所述正极探测部断开和/或所述温度负极测针与所述负极探测部断开。
3.根据权利要求2所述的用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,所述测温装置包括测温支座,所述温度测针组件设在所述测温支座上,所述测温支座上设有用于驱动所述温度测针组件移动的第一驱动件,所述第一驱动件与所述温度测针组件相连用于驱动所述温度测针组件在所述第一准备位置和所述第一测试位置之间移动。
4.根据权利要求3所述的用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,所述温度测针组件与所述第一驱动件之间连接有温度测针导向杆,所述温度测针导向杆沿上下方向可移动地设在所述测温支座上,所述温度测针导向杆与所述测温支座之间设有直线轴承。
5.根据权利要求3所述的用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,所述第一驱动件为可调行程气缸。
6.根据权利要求1所述的用于检测PTC芯体的测温装置,其特征在于,所述测温装置包括测温支座,所述红外热像仪沿上下方向可移动地设在所述测温支座上并适于与所述测温治具相对设置。
7.一种PTC芯体的检测设备,其特征在于,包括:
电控柜,所述电控柜具有操作台;
测温装置,所述测温装置为根据权利要求1-6中任一项所述的用于检测PTC芯体的测温装置,所述测温装置设在所述操作台上并与所述电控柜相连;
测电阻装置,所述测电阻装置设在所述操作台上并与所述电控柜相连,所述测电阻装置用于检测所述PTC芯体的电阻。
8.根据权利要求7所述的PTC芯体的检测设备,其特征在于,所述测电阻装置包括:
测电阻治具,所述测电阻治具上设有多个第二芯体定位槽;
电阻测针组件,所述电阻测针组件包括电阻正极测针和电阻负极测针,所述电阻正极测针和所述电阻负极测针适于分别与位于多个所述第二芯体定位槽中的PTC芯体电连接。
9.根据权利要求8所述的PTC芯体的检测设备,其特征在于,所述测电阻治具包括:第二芯体定位板、第二绝缘底板和负极板,所述负极板位于所述第二芯体定位板和所述第二绝缘底板之间,所述第二芯体定位槽形成在所述第二芯体定位板上,且所述第二芯体定位槽的至少一部分沿厚度方向贯穿所述第二芯体定位板。
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