[发明专利]一种内存检测方法及装置有效
| 申请号： | 201611162383.8 | 申请日： | 2016-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN106776173B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 周茂庸;王为 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内存检测方法及装置，其中，方法包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个待测内存颗粒的位置参数；并根据待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的有效访问区域，访问待测内存，并形成访问结果；S4：判断访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。通过本发明的技术方案，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。
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