[发明专利]一种内存检测方法及装置

权利要求书

1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：

S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；

S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；

S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；

S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；

S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；

S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。

2.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，

所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由小到大的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；

则，

所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问成功；

所述根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：

按照由小到大的顺序，利用至少一个检测参数生成第一数据队列，以及，利用各个所述待测内存颗粒的位置参数生成第二数据队列；

确定选择的检测参数在所述第一数据队列中的第一顺序位a；

将所述第二数据队列中，位于第a个顺序位的位置参数确定为第一参考位置参数；

将所述第一参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。

3.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，

所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由大到小的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；

则，所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问失败；

所述根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：

按照由大到小的顺序，利用至少一个检测参数生成第三数据队列，以及，利用各个待测内存颗粒的位置参数生成第四数据队列；

确定选择的检测参数在所述第三数据队列中的第二顺序位b；

将所述第四数据队列中，位于第b-1个顺序位的位置参数确定为第二参考位置参数；

将所述第二参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。

4.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，

所述确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数，包括：

确定待测内存对应的一个失效数据位，以及确定待测内存中内存颗粒的数量以及颗粒位宽；

根据所述内存颗粒的数量、所述颗粒位宽及所述失效数据位，确定所述待测内存颗粒的数量，以及每一个所述待测内存颗粒分别对应的位置参数。

5.根据权利要求1至4中任一所述的内存检测方法，其特征在于，

所述根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域，包括：将所述待测内存的有效rank参数修改为选择的检测参数；

所述根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，包括：根据修改后的有效rank参数，依次访问所述待测内存的前n+1个rank，其中，n为选择的检测参数。