[发明专利]一种内存检测方法及装置

说明书

本发明提供了一种内存检测方法及装置，其中，方法包括：S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个待测内存颗粒的位置参数；并根据待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；S2：根据选择的检测参数，修改待测内存的有效访问区域；S3：根据修改后的有效访问区域，访问待测内存，并形成访问结果；S4：判断访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；S5：根据选择的检测参数，以及每一个待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。通过本发明的技术方案，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种内存检测方法及装置。

背景技术

随着内存技术朝着大容量方向的发展，一个内存通常可以包括多个rank，每一个rank通常可以包括多个内存颗粒。

目前，利用业界通用的内存测试工具(比如，memtest86+以及RST Pro等)对待测内存进行测试时，仅需要将待测内存与处理器相连，则可在处理器上运行内存测试工具，以检测处理器的每一个数据位是否失效，进而将失效的数据位对应的每一个内存颗粒均确定为故障内存颗粒。

由于同一个数据位可对应待测内存中的多个内存颗粒，而任意一个内存颗粒出现故障时，均会导致其对应的数据位失效，因此，上述技术方案确定的多个故障内存颗粒中可能存在未发生故障的内存颗粒，不能准确检测出内存的故障内存颗粒。

发明内容

本发明实施例提供了一种内存检测方法及装置，可更为准确的检测出内存的故障内存颗粒。

第一方面，本发明提供了一种内存检测方法，包括：

S0：确定待测内存中对应同一个失效数据位的待测内存颗粒的数量，以及确定每一个所述待测内存颗粒的位置参数；并根据所述待测内存颗粒的数量确定至少一个检测参数；

S1：根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的一个检测参数；

S2：根据选择的检测参数，修改所述待测内存的有效访问区域；

S3：根据修改后的所述有效访问区域，访问所述待测内存，并形成访问结果；

S4：判断所述访问结果是否为预设访问结果，如果是，则执行步骤S1；否则，执行步骤S5；

S5：根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒。

优选地，

所述根据每一个检测参数的大小，选择一个未被选择过的检测参数，包括：根据每一个检测参数的大小，按照由小到大的顺序，选择一个未被选择过的检测参数；

则，

所述判断所述访问结果是否为预设访问结果，包括：判断所述访问结果是否为访问成功；

所述根据选择的检测参数，以及每一个所述待测内存颗粒的位置参数，确定故障内存颗粒，包括：

按照由小到大的顺序，利用至少一个检测参数生成第一数据队列，以及，利用各个所述待测内存颗粒的位置参数生成第二数据队列；

确定选择的检测参数在所述第一数据队列中的第一顺序位a；

将所述第二数据队列中，位于第a个顺序位的位置参数确定为第一参考位置参数；

将所述第一参考位置参数对应的待测内存颗粒确定为故障内存颗粒。

优选地，