[发明专利]一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法

摘要

本发明公开了一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法，其目的在于当测量表面反射率低的物体时，利用图像调制度中承载的物体反射率信息，对原始图像进行像素调整，从而提高相位质量。其实现步骤为：首先用相机采集受物体影响的变形条纹；然后用采集到的图像计算调制度系数I"并将其进行归一化；设定分割阈值T，将所有I"＜T的像素点分类，每一类中所有像素对应的I"值相近；对于每一类中所有像素，可以获取若干组N个灰度值，将这些组灰度值进行求均值，可获取一组灰度值曲线；最后用该组平均灰度值来替换该类中所有像素对应的N个灰度值，完成图像的校正工作。校正之后的图像可以用于计算相位，相位信息可以最终转化为待测物体的三维信息。

主权项

1.一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法，其特征在于，包括：(1)用投影仪向待测物体表面投射N幅相移正弦光栅图像并用相机采集；(2)根据采集得到的N幅相移条纹图求解调制度系数；(3)基于调制度系数确定物体表面发射率较低的部分，该部分对应的像素点为需要处理的像素点；(4)将所有要处理的像素点根据调制度系数进行分类，同一类的像素点的调制度系数相近；(5)对于每一类中若干个像素，每个像素对应一组N个灰度值，将这些像素的若干组N个灰度值对应位置进行求均值操作，然后用均值替换原像素的灰度值，实现图像校正；(6)基于校正后的图像计算主值相位并最终求解物体的三维信息。