[发明专利]金属检测装置

摘要

本发明描述了一种金属检测装置，所述金属检测装置包括具有频率发生器的发射器单元，该频率发生器向放大器级的输入端提供具有可选择的操作频率的输入信号，该放大器级的输出端经由耦合变压器连接到发射器线圈，该发射器线圈耦合到第一和第二接收器线圈，该第一和第二接收器线圈连接到信号处理单元，该信号处理单元包括连接到信号处理器的接收器单元。

主权项

一种具有发射器单元(1)的金属检测装置，所述发射器单元(1)包括频率发生器(11)，所述频率发生器(11)向放大器级(12)的输入端提供具有可选择的操作频率(fTX)的输入信号(SIN)，所述放大器级(12)的输出端经由耦合变压器(13)连接到发射器线圈(21)，所述发射器线圈(21)耦合到第一接收器线圈和第二接收器线圈(3；31、32)，所述第一接收器线圈和所述第二接收器线圈(3；31、32)连接到信号处理单元(4)，所述信号处理单元(4)包括连接到信号处理器(42)的接收器单元(41)，其特征在于，所述耦合变压器(13)包括连接到所述放大器级(12)的所述输出端的第一绕组(13A)和第二绕组(13B)以及连接到所述发射器线圈(21)的第三绕组(13C)，所述第一绕组和所述第二绕组(13A、13B)通过第一端连接到电源电压(+Ub)，并且在从所述第一端开始计数的相同匝数处均具有至少一个抽头(141、142、143、144；141’、142’、143’、144’)；所述放大器级(12)包括：具有第一功率晶体管(T)的第一放大翼(12A)，所述第一功率晶体管(T)连接到所述第一绕组(13A)的至少一个抽头(141、142、143、144)；以及具有第二功率晶体管(T’)的第二放大翼(12B)，所述第二功率晶体管(T’)连接到所述第二绕组(13B)的至少一个抽头(141’、142’、143’、144’)，并且其中，所述第一放大翼(12A)放大所述输入信号(SIN)的第一半波，并且所述第二放大翼(12B)放大所述输入信号(SIN)的第二半波。