[发明专利]金属检测装置

权利要求书

1.一种具有发射器单元(1)的金属检测装置，所述发射器单元(1)包括频率发生器(11)，所述频率发生器(11)向放大器级(12)的输入端提供具有可选择的操作频率(f_TX)的输入信号(S_IN)，所述放大器级(12)的输出端经由耦合变压器(13)连接到发射器线圈(21)，所述发射器线圈(21)耦合到第一接收器线圈和第二接收器线圈(3；31、32)，所述第一接收器线圈和所述第二接收器线圈(3；31、32)连接到信号处理单元(4)，所述信号处理单元(4)包括连接到信号处理器(42)的接收器单元(41)，其特征在于，所述耦合变压器(13)包括连接到所述放大器级(12)的所述输出端的第一绕组(13A)和第二绕组(13B)以及连接到所述发射器线圈(21)的第三绕组(13C)，

所述第一绕组和所述第二绕组(13A、13B)通过第一端连接到电源电压(+Ub)，并且在从所述第一端开始计数的相同匝数处均具有至少一个抽头(141、142、143、144；141’、142’、143’、144’)；

所述放大器级(12)包括：具有第一功率晶体管(T)的第一放大翼(12A)，所述第一功率晶体管(T)连接到所述第一绕组(13A)的至少一个抽头(141、142、143、144)；以及具有第二功率晶体管(T’)的第二放大翼(12B)，所述第二功率晶体管(T’)连接到所述第二绕组(13B)的至少一个抽头(141’、142’、143’、144’)，并且其中，所述第一放大翼(12A)放大所述输入信号(S_IN)的第一半波，并且所述第二放大翼(12B)放大所述输入信号(S_IN)的第二半波。

2.根据权利要求1所述的金属检测装置，其中，所述第一绕组和所述第二绕组(13A、13B)包括相同数量的匝，相应的第一抽头和第二抽头(141、141’；142、142’；143、143’；144、144’)连接到所述第一绕组和所述第二绕组(13A、13B)的相同匝数，并且其中，所述第一功率晶体管和所述第二功率晶体管(T、T’)能够经由相关的第一开关或第二开关(14A、14B)连接到相应的第一抽头或第二抽头(141、141’；142、142’；143、143’；144、144’)。

3.根据权利要求2所述的金属检测装置，其中，所述第一功率晶体管和所述第二功率晶体管(T、T’)的集电极能够经由所述第一开关或所述第二开关(14A、14B)连接到所述相应的第一抽头或第二抽头(141、141’；142、142’；143、143’；144、144’)，并且其中，所述第一绕组(13A)的第一端和所述第二绕组(13B)的第一端连接到第一电源电压(+Ub)，并且所述第一绕组(13A)和所述第二绕组(13B)具有相反方向的绕组。

4.根据权利要求2或3所述的金属检测装置，其中，所述放大器级(12)被布置在第一外壳中，并且所述耦合变压器(13)被布置在第二外壳中，并且其中，经由发射器电缆(TC)分别将所述第一功率晶体管和所述第二功率晶体管(T、T’)的集电极与所述第一开关和所述第二开关(14A、14B)连接。

5.根据权利要求3所述的金属检测装置，其中，所述第一功率晶体管(T)的集电极经由所述第一绕组(13A)连接到所述第一电源电压(+Ub)，并且其中，所述第一功率晶体管(T)的发射极经由第一发射极电阻器(R7)连接到第二电源电压(-Ub)，并且其中，所述第二功率晶体管(T’)的集电极经由所述第二绕组(13B)连接到所述第一电源电压(+Ub)，并且其中，所述第二功率晶体管(T’)的发射极经由第二发射极电阻器(R7’)连接到所述第二电源电压(-Ub)，并且其中，所述第一功率晶体管和所述第二功率晶体管的基极被提供有具有相同偏置电压的相对应的电阻器网络(R5、R6、R7；R5’、R6’、R7’)。