[发明专利]终端功耗实时测试装置及方法在审
| 申请号： | 201611156652.X | 申请日： | 2016-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN108226628A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 毕帅 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R21/00 | 分类号： | G01R21/00;G01R21/06;H04M1/24 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种终端功耗实时测试装置及方法中，所述装置包括：一壳体、一控制单元、一数据采集装置以及一存储单元。待测终端位于所述终端功耗实时测试装置的壳体中，所述装置和待测终端之间无需通过其他外部设备，而是直接连接，因此，可以方便的用于外场测试环境和体验机的测试环境。提高了测试的便利性。所述待测终端通过控制单元控制数据采集单元获取的所述待测终端的功耗数据并存储在一存储单元上，从而可以记录所述待测终端的任意时段的详细功耗数据。进一步的，所述待测终端可以自动的对其应用日志数据和获取的功耗数据进行分析比对，方便发现和分析所述待测终端的功耗异常点。提高了测试工程师的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 待测终端 实时测试装置 功耗数据 终端功耗 存储单元 壳体 外部设备 数据采集装置 测试工程师 采集单元 测试环境 分析比对 工作效率 控制数据 外场测试 应用日志 便利性 异常点 功耗 存储 测试 记录 发现 分析 | ||
【主权项】：
1.一种终端功耗实时测试装置，用于测试一待测终端的实时功耗，其特征在于，包括：一壳体，所述待测终端位于所述壳体中；一控制单元，所述控制单元位于所述壳体中，并与所述待测终端电性连接；一数据采集单元，所述数据采集单元位于所述壳体中，并同时连接于所述控制单元以及所述待测终端的供电装置，用于获取所述待测终端的实时功耗；以及一存储单元，所述存储单元位于所述壳体中，电性连接于所述控制单元，用于存储所述数据采集单元获取的所述待测终端的实时功耗。
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