[发明专利]终端功耗实时测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201611156652.X 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN108226628A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 毕帅 申请(专利权)人: 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司
主分类号: G01R21/00 分类号: G01R21/00;G01R21/06;H04M1/24
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 待测终端 实时测试装置 功耗数据 终端功耗 存储单元 壳体 外部设备 数据采集装置 测试工程师 采集单元 测试环境 分析比对 工作效率 控制数据 外场测试 应用日志 便利性 异常点 功耗 存储 测试 记录 发现 分析
【权利要求书】:

1.一种终端功耗实时测试装置,用于测试一待测终端的实时功耗,其特征在于,包括:

一壳体,所述待测终端位于所述壳体中;

一控制单元,所述控制单元位于所述壳体中,并与所述待测终端电性连接;一数据采集单元,所述数据采集单元位于所述壳体中,并同时连接于所述控制单元以及所述待测终端的供电装置,用于获取所述待测终端的实时功耗;以及

一存储单元,所述存储单元位于所述壳体中,电性连接于所述控制单元,用于存储所述数据采集单元获取的所述待测终端的实时功耗。

2.如权利要求1所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述控制单元通过USB接口与所述待测终端连接。

3.如权利要求1所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述数据采集模块包括电压电流采集模块。

4.如权利要求1所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述控制单元包括一单片机。

5.如权利要求4所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述单片机包括至少一SPI控制器以及至少两个串口。

6.如权利要求5所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述至少两个串口中的一个串口连接于一USB转串口芯片的一端;所述至少两个串口中的又一个串口连接于所述数据采集单元。

7.如权利要求5所述的终端功耗实时测试装置,其特征在于,所述单片机与所述存储单元通过一SPI接口连接。

8.一种利用如权利要求1-7中任意一项所述的装置对一待测终端的功耗进行实时测试的方法,其特征在于,

所述待测终端控制所述装置的控制单元开启,并通知所述控制单元当前的时间;

所述控制单元通过数据采集单元实时获取所述待测终端的功耗数据;

所述待测终端获取其应用日志数据和所述功耗数据进行分析并输出分析结果;以及

所述待测终端控制所述控制单元关闭。

9.如权利要求8所述的终端功耗实时测试方法,其特征在于,所述待测终端包括一运行程序,所述运行程序控制所述控制单元的开启或关闭、以及获取所述待测终端的应用日志数据和所述功耗数据并进行分析。

10.如权利要求9所述的终端功耗实时测试方法,其特征在于,所述运行程序获取所述待测终端的应用日志数据和所述功耗数据并进行分析的步骤包括:

所述运行程序获取所述应用日志数据,并从中提取事件,同时提取所述事件发生时的时间;

所述运行程序从所述功耗数据中获取所述事件发生时所述待测终端的总功耗;

所述运行程序获取所述事件发生时所述待测终端的一预期总功耗;

根据所述事件发生时所述待测终端的总功耗与所述预期总功耗获取功耗异常的时间点。

11.如权利要求10所述的终端功耗实时测试方法,其特征在于,根据所述事件发生时所述待测终端的总功耗与所述预期总功耗获取功耗异常的时间点的步骤包括:

获取所述事件发生时所述待测终端的总功耗与所述预期总功耗的差值;

将所述差值的绝对值与一预定差值进行比对,当所述绝对值大于所述预定差值时,则所述事件发生时所述待测终端的功耗异常;当所述绝对值小于等于所述预定差值时,则所述事件发生时所述待测终端的功耗正常。

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