[发明专利]高阶项电离层延迟对GPS坐标时间序列影响的量化方法

摘要

本发明公开了一种高阶项电离层延迟对GPS坐标时间序列影响的量化方法，包括：收集GPS基准站的原始观测数据；基于历史观测数据获得仅考虑电离层延迟一阶项的GPS坐标时间序列，记为序列A；基于历史观测数据计算经电离层高阶项改正后的GPS坐标时间序列，记为序列B；将序列A和序列B在时间域对齐后相减，获得GPS基准站的高阶项电离层延迟影响时间序列，记为序列C；对序列A、序列B、序列C分别进行噪声分析，获得各序列对应的测站速度、噪声特性和季节性信息，从而量化高阶项电离层延迟的影响。本发明可定量确定高阶项电离层延迟对测站坐标时间序列的影响，能更好的解释GPS坐标时间序列中呈现的非线性变化来源。

主权项

1.高阶项电离层延迟对GPS坐标时间序列影响的量化方法，其特征是，包括：S1收集GPS基准站的原始观测数据；S2基于历史观测数据进行基线解算，仅考虑电离层延迟一阶项，经网平差后将基准统一到ITRF框架下，获得仅考虑电离层延迟一阶项的GPS坐标时间序列，记为序列A；S3基于历史观测数据进行基线解算，考虑电离层延迟的二阶项与三阶项，计算经电离层高阶项改正后的GPS坐标时间序列，记为序列B；S4将序列A和序列B在时间域对齐后相减，获得GPS基准站的高阶项电离层延迟影响时间序列，记为序列C；S5对序列A、序列B、序列C分别进行噪声分析，获得各序列对应的测站速度、噪声特性和季节性信息，根据各序列的测站速度、噪声特性、季节性信息的变化来量化高阶项电离层延迟的影响。