[发明专利]一种单发紫外超短脉冲脉宽测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种单发紫外超短脉冲脉宽测量装置及方法，该方法基于紫外光脉冲和近红外脉冲的强度互相关，通过一个脉宽已知的近红外超短脉冲和紫外光超短脉冲的差频过程来达到测量紫外超短脉冲脉宽的目的，实现该方法装置的结构简单、便于操作；可用于低重复频率激光脉冲的测量。

主权项

1.一种单发紫外超短脉冲脉宽测量装置，包括测量底板和激光器，其特征在于，所述测量底板上安装有三倍频器(1)、双色分束镜(2)、第一平移台(3)、第二平移台(4)、第一紫外光反射镜(5)、第二紫外光反射镜(6)、第三紫外光反射镜(7)、第一近红外光反射镜(8)、第二近红外光反射镜(9)、第三近红外光反射镜(10)、第四近红外光反射镜(11)、第五近红外光反射镜(12)和第六近红外光反射镜(13)、非线性晶体(14)、自相关仪(15)和成像装置(16)；其中，第一平移台(3)上安装第一紫外光反射镜(5)和第二紫外光反射镜(6)，第二平移台(4)上安装第一近红外光反射镜(8)和第二近红外光反射镜(9)；激光器发射激光经过三倍频器(1)出射紫外光脉冲和近红外光脉冲，紫外光脉冲经由双色分束镜(2)反射，近红外光脉冲经由双色分束镜(2)透射；经由双色分束镜(2)反射的紫外光脉冲经由第一紫外光反射镜(5)、第二紫外光反射镜(6)和第三紫外光反射镜(7)依次反射，入射到非线性晶体(14)内；通过调节第六近红外光反射镜(13)使其偏离近红外光脉冲的入射路径，经由双色分束镜(2)透射的近红外光脉冲经由第一近红外光反射镜(8)、第二近红外光反射镜(9)、第三近红外光反射镜(10)和第四近红外光反射镜(11)依次反射，入射到非线性晶体(14)内；通过调节第六近红外光反射镜(13)使其处于近红外光脉冲的入射路径上，经由双色分束镜(2)透射的近红外光脉冲经由第一近红外光反射镜(8)、第二近红外光反射镜(9)、第三近红外光反射镜(10)、第四近红外光反射镜(11)、第六近红外光反射镜(13)和第五近红外光反射镜(12)，入射到自相关仪(15)内；通过成像装置(16)观察紫外光脉冲和近红外光脉冲的差频信号。