[发明专利]NANDflash存储设备的测试系统在审
| 申请号： | 201611130015.5 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN108614755A | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 陈诚 | 申请（专利权）人： | 北京京存技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆;胡彬 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种NAND flash存储设备的测试系统。所述NAND flash存储设备的测试系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接。本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。 | ||
| 搜索关键词： | 测试系统 存储设备 测试板 测试命令 上位机 重现 串口 自动化测试 测试文件 预设要求 直接调用 保存 检测 | ||
【主权项】：
1.一种NAND flash存储设备的测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。
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