[发明专利]NANDflash存储设备的测试系统

说明书

本发明实施例公开了一种NAND flash存储设备的测试系统。所述NAND flash存储设备的测试系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接。本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。

技术领域

本发明实施例涉及存储器测试技术，尤其涉及一种NAND flash存储设备的测试系统。

背景技术

NAND Flash是Flash内存的一种，属于非易失性存储设备。

基于NAND flash的存储设备的性能需要通过测试得出，在设备研发过程中，为了定位问题，也需要通过测试测出问题并重现问题来定位错误。因此，存储设备的自动化测试和问题重现对于产品的调试具有重要的意义。

发明内容

本发明实施例提供一种NAND flash存储设备的测试系统，以对存储设备实现自动化测试和问题重现。

第一方面，本发明实施例提供了一种NAND flash存储设备的测试系统，包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，

所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；

所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；

所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；

待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。

本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。。

附图说明

图1是本发明实施例一中的一种NAND flash存储设备的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种NAND flash存储设备的测试系统的结构示意图，该NAND flash存储设备的测试系统应用于存储设备产品的调试操作。

如图1所示，所述NAND flash存储设备的测试系统具体包括：上位机110、测试板120和待测存储设备130。

上位机110通过串口与测试板120连接，测试板120还通过特定接口与待测存储设备130连接；

所述上位机包括可以直接发出操控命令的计算机。所述测试板可以是印制电路板(PCB)，所述测试板集成了现场可编程逻辑门阵列(FPGA)。

所述串口即串行通信接口，是采用串行通信方式的扩展接口，在本实施例中用于上位机110和测试板120间的信息传送。待测存储设备130可以是Nand flash存储设备。

所述特定接口根据不同的待测存储设备130进行选择，可以是存储设备的用户端接口。