[发明专利]一种制冷红外探测器有效

专利信息
申请号: 201611121203.1 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN106706136B 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 韩蓬磊;刘森;董硕 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02
代理公司: 11010 工业和信息化部电子专利中心 代理人: 于金平<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种制冷红外探测器,该制冷红外探测器包括:包括杜瓦、杜瓦冷指、制冷器以及探测器芯片,制冷器位于杜瓦冷指中,探测器芯片在杜瓦内、位于杜瓦冷指的冷头上,杜瓦冷指底部、与冷头相对的一侧设有蓄冷装置。借助于本发明的技术方案,不仅可以在不增加制冷器耗气量的情况下延长红外探测器的蓄冷时间,而且还能在一定程度上增强红外探测器的控温稳定性。
搜索关键词: 杜瓦 红外探测器 冷指 制冷器 探测器芯片 制冷 蓄冷装置 耗气量 控温 冷头 蓄冷
【主权项】:
1.一种J-T制冷红外探测器,包括:杜瓦、杜瓦冷指、J-T制冷器以及探测器芯片,所述J-T制冷器位于所述杜瓦冷指中,所述探测器芯片在所述杜瓦内、位于所述杜瓦冷指的冷头上,其特征在于:/n所述杜瓦冷指底部、与冷头相对的一侧设有蓄冷装置;/n所述蓄冷装置为网状结构;/n所述蓄冷装置为不锈钢网或铜网;/n所述网状结构的目数为100目~200目;/n所述蓄冷装置中存储有液态制冷工质,当J-T制冷器通气工作后,液体制冷工质在所述蓄冷装置中形成一层稳定的液膜。/n
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