[发明专利]用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201611102790.X 申请日: 2016-12-05
公开(公告)号: CN107340214B 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 张佳;王鹏飞;周永贤;朱琳;何秋平 申请(专利权)人: 上海绿强新材料有限公司;上海化工研究院有限公司
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 31225 上海科盛知识产权代理有限公司 代理人: 赵志远
地址: 201806 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统及其检测方法,所述的系统包括高压储液罐、依次与高压储液罐的出口相连通的杂质注入单元、分子筛吸附罐以及检测仪器,高压储液罐的进口与外部高压介质输送管路相连通,高压储液罐与杂质注入单元之间、杂质注入单元与分子筛吸附罐之间分别设有第一流量控制阀、第二流量控制阀,分子筛吸附罐与检测仪器之间还设有减压阀,并且分子筛吸附罐与外部的真空泵相连接;杂质注入单元包括至少一个杂质罐。与现有技术相比,本发明可测试高压条件下分子筛材料对不同杂质的吸附容量,测试方法易于调变吸附温度、杂质种类及杂质浓度,可实现多种杂质的共吸附容量的测试。
搜索关键词: 用于 高压 条件下 检测 分子筛 吸附 容量 系统 及其 方法
【主权项】:
1.用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统,其特征在于,该系统包括高压储液罐、依次与高压储液罐的出口相连通的杂质注入单元、分子筛吸附罐以及检测仪器,所述的高压储液罐的进口与外部高压介质输送管路相连通,所述的高压储液罐与杂质注入单元之间、所述的杂质注入单元与分子筛吸附罐之间分别设有第一流量控制阀、第二流量控制阀,所述的分子筛吸附罐与检测仪器之间还设有减压阀,并且所述的分子筛吸附罐与外部的真空泵相连接,/n所述的杂质注入单元包括至少一个杂质罐,所述的杂质罐内部设有加热器,外部设有与微量进样器相适配的注入口,通过注入口注入杂质,所述的杂质包括水、醇、醚、醛、酮或水溶液中的一种或多种,所述的水溶液包括硫化氢水溶液、二氧化硫水溶液、盐酸水溶液、甲醛水溶液、低碳醇水溶液或氨水中的一种或几种。/n
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