[发明专利]用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统及其检测方法

权利要求书

1.用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统，其特征在于，该系统包括高压储液罐、依次与高压储液罐的出口相连通的杂质注入单元、分子筛吸附罐以及检测仪器，所述的高压储液罐的进口与外部高压介质输送管路相连通，所述的高压储液罐与杂质注入单元之间、所述的杂质注入单元与分子筛吸附罐之间分别设有第一流量控制阀、第二流量控制阀，所述的分子筛吸附罐与检测仪器之间还设有减压阀，并且所述的分子筛吸附罐与外部的真空泵相连接，

所述的杂质注入单元包括至少一个杂质罐，所述的杂质罐内部设有加热器，外部设有与微量进样器相适配的注入口，通过注入口注入杂质，所述的杂质包括水、醇、醚、醛、酮或水溶液中的一种或多种，所述的水溶液包括硫化氢水溶液、二氧化硫水溶液、盐酸水溶液、甲醛水溶液、低碳醇水溶液或氨水中的一种或几种。

2.根据权利要求1所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统，其特征在于，所述的杂质注入单元设有多个杂质罐时，各杂质罐依次串联连接。

3.根据权利要求2所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统，其特征在于，各杂质罐之间分别设有第三流量控制阀。

4.根据权利要求3所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统，其特征在于，所述的杂质罐的入口与出口位于同一侧，并且入口处的入口管通入杂质罐的底部，并与出口相连通。

5.根据权利要求1所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统，其特征在于，所述的检测仪器包括卡尔费休微量水分仪、露点仪、气相色谱仪、气相色谱质谱联用仪或微库仑仪中的一种或几种。

6.如权利要求1至5任一项所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统的检测方法，其特征在于，该方法具体包括以下步骤：

(1)将高压储液罐、杂质注入单元、分子筛吸附罐清洗、烘干备用；

(2)将高压储液罐抽真空，称重后，再通过外部高压介质输送管路将高压介质注入高压储液罐中，充注完毕后，关闭阀门，再对高压储液罐进行称重，计算得到高压介质总量；

(3)使用微量进样器缓慢移取定量杂质加入杂质注入单元中，得到杂质总量；

(4)移取定量待检测分子筛，加入分子筛吸附罐中，并抽真空，称重得到分子筛总量；

(5)将高压储液罐、杂质注入单元、分子筛吸附罐通过管路相连通；

(6)对杂质注入单元进行加热，使杂质加热汽化，再打开第二流量控制阀、第一流量控制阀，使杂质、高压介质一起流入分子筛吸附罐；

(7)将系统置于恒温环境中，保持密闭一定时间，待系统内物料达到平衡状态后，打开减压阀，经减压流出，检测出口物料中的杂质浓度；

(8)根据步骤(2)中高压介质总量以及步骤(7)检测的杂质浓度，计算得到未被吸附的杂质总量；

(9)根据步骤(8)计算得到的未被吸附的杂质总量与步骤(3)中杂质总量的差值，计算得到已吸附杂质含量；

(10)步骤(9)计算得到的已吸附杂质含量与步骤(4)中分子筛总量的比值即为分子筛吸附容量。

7.根据权利要求6所述的用于高压条件下检测分子筛吸附容量的系统的检测方法，其特征在于，步骤(7)中所述的恒温环境的恒温温度为25-60℃，保持密闭的时间≥24小时。