[发明专利]一种光模块壳温监控方法及装置

摘要

本发明公开了一种光模块壳温监控方法及装置，用以提高光模块壳温在各个温度段的监控精度。该方法包括：根据光模块壳温的第一输出值；确定第一输出值处于低温阈值区间时，获取驱动芯片温度采样值；根据驱动芯片温度采样值和与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第二输出值；根据光模块壳温的第二输出值，确定第二输出值处于高温阈值区间时，获取控制芯片温度采样值；根据控制芯片温度采样值和与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第三输出值。在不同的温度段选取不同的温度采样源进行光模块壳温的监控，提高光模块壳温在各个温度段的监控精度。

主权项

1.一种光模块壳温监控方法，其特征在于，包括：在根据光模块壳温的第一输出值，确定所述第一输出值处于低温阈值区间时，获取驱动芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述低温阈值区间时，驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；根据所述驱动芯片温度采样值和所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第二输出值；在根据光模块壳温的所述第一输出值，确定所述第一输出值处于高温阈值区间时，获取控制芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述高温阈值区间时，控制芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；根据所述控制芯片温度采样值和所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第三输出值。