[发明专利]一种光模块壳温监控方法及装置

权利要求书

1.一种光模块壳温监控方法，其特征在于，包括：

在根据光模块壳温的第一输出值，确定所述第一输出值处于低温阈值区间时，获取驱动芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述低温阈值区间时，驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；

根据所述驱动芯片温度采样值和所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第二输出值；

在根据光模块壳温的所述第一输出值，确定所述第一输出值处于高温阈值区间时，获取控制芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述高温阈值区间时，控制芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；

根据所述控制芯片温度采样值和所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第三输出值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述驱动芯片温度采样值和所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第二输出值，包括：

根据所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定获取的所述驱动芯片温度采样值所对应的温度补偿值；

根据所述温度补偿值，对所述驱动芯片温度采样值进行补偿，得到光模块壳温的第二输出值。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，

根据所述控制芯片温度采样值和所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第三输出值，包括：

根据所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定获取的所述控制芯片温度采样值所对应的温度补偿值；

根据所述温度补偿值，对所述控制芯片温度采样值进行补偿，得到光模块壳温的第三输出值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定光模块壳温的第二输出值之后，所述方法还包括：

向外部设备输出光模块壳温的第二输出值；

在确定光模块壳温的第三输出值之后，所述方法还包括：

向所述外部设备输出光模块壳温的第三输出值。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述低温阈值区间和所述高温阈值区间构成光模块壳温的全温区间，其中，所述低温阈值区间为：-40℃～25℃；所述高温阈值区间为：25℃～100℃。

6.一种光模块壳温监控装置，其特征在于，包括：

第一上报单元，用于向处理单元上报驱动芯片温度采样值；

第二上报单元，用于向所述处理单元上报光模块控制芯片温度采样值；

处理单元，用于在根据光模块壳温的第一输出值，确定所述第一输出值处于低温阈值区间时，获取所述第一上报单元上报的驱动芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述低温阈值区间时，驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；根据所述驱动芯片温度采样值和所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第二输出值；

所述处理单元，还用于在根据光模块壳温的所述第一输出值，确定所述第一输出值处于高温阈值区间时，获取所述第二上报单元上报的控制芯片温度采样值；在光模块壳温处于所述高温阈值区间时，控制芯片温度采样值与光模块壳温满足线性关系；根据所述控制芯片温度采样值和所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定光模块壳温的第三输出值。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：

根据所述驱动芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定获取的所述驱动芯片温度采样值所对应的温度补偿值；

根据所述温度补偿值，对所述驱动芯片温度采样值进行补偿，得到光模块壳温的第二输出值。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：

根据所述控制芯片温度采样值与光模块壳温满足的线性关系，确定获取的所述控制芯片温度采样值所对应的温度补偿值；

根据所述温度补偿值，对所述控制芯片温度采样值进行补偿，得到光模块壳温的第三输出值。