[发明专利]感应的位置测量机构有效
| 申请号： | 201611078139.3 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN106969695B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | M.霍伊曼;M.O.蒂曼;A.弗兰克 | 申请（专利权）人： | 约翰内斯·海德汉博士有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01B7/02;G01B7/30 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杨国治;张昱 |
| 地址： | 德国特劳*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及感应的位置测量机构，具体而言，根据本发明，用于绝对的位置测量的感应的位置测量机构包括标尺单元，带有第一测量刻度和平行于所述第一测量刻度伸延的且对置于所述第一测量刻度的第二测量刻度。扫描单元布置在第一测量刻度与第二测量刻度之间的间隙中并且能够相对于所述标尺单元在测量方向（X）上移位。扫描单元包括第一线圈组件用于扫描所述第一测量刻度且用于产生取决于位置的第一扫描信号，以及对置于所述第一线圈组件的第二线圈组件用于扫描所述第二测量刻度且用于产生取决于位置的第二扫描信号。在所述第一线圈组件与所述第二线圈组件之间布置有由软磁的材料制成的中间层，所述中间层将所述两个线圈组件与彼此屏蔽。 | ||
| 搜索关键词： | 感应 位置 测量 机构 | ||
【主权项】：
1.感应的位置测量机构，用于绝对的位置测量，所述感应的位置测量机构包括‑ 标尺单元（1、100），带有在测量方向（X）上伸延的第一测量刻度（11）和平行于所述第一测量刻度伸延的且对置于所述第一测量刻度（11）的第二测量刻度（12）；‑ 扫描单元（2、2.1），其布置于在所述第一测量刻度（11）与所述第二测量刻度（12）之间的间隙中并且为了所述位置测量能够相对于所述标尺单元（1、100）在测量方向（X）上移位，其中，所述扫描单元（2、2.1）包括第一线圈组件（21）用于扫描所述第一测量刻度（11）且用于产生取决于位置的第一扫描信号（S1、S11）并且所述扫描单元（2、2.1）包括对置于所述第一线圈组件（21）的第二线圈组件（22）用于扫描所述第二测量刻度（12）且用于产生取决于位置的第二扫描信号（S2、S21），其特征在于，在所述第一线圈组件（21）与所述第二线圈组件（22）之间布置有至少一个由软磁的材料制成的中间层（6、6.1）。
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