[发明专利]大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备

摘要

本发明涉及一种大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，其测试系统包括带扩展控制器的恒流源、工控机、PLC控制器、换相机构和采集断路器瞬时特性数据的数据记录单元，换相机构控制待测断路器A、B、C、N极单独和A、B、C极两两串联接入恒流源，工控机检测到扩展控制器内记录的为恒流源无电流输出时发出瞬动电流的启动指令控制恒流源输出预期电流，通过工控机操作界面设置待测断路器的测试参数，工控机向PLC控制器发出断路器测试控制指令，PLC控制器根据断路器测试控制指令控制换相机构的各测试回路切换导通完成待测断路器的测试。具有检测精度高、节拍快、智能化水平高、可靠的优点。

主权项

1.一种大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，包括机架、断路器装载台以及测试系统，测试系统包括用于提供待测断路器测试电流的大电流交流恒流源，其特征在于：所述的大电流交流恒流源内设有扩展控制器，用于监测并存储大电流交流恒流源的电流输出状态，所述测试系统还包括有工控机、PLC控制器、换相机构以及用于采集断路器瞬时特性数据的数据记录单元，数据记录单元与所述工控机连接实现待测断路器测试结果显示，所述换相机构包括对应控制待测断路器A、B、C、N极单独接入大电流交流恒流源形成导通回路的A、B、C、N单相测试回路，控制待测断路器A、B极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的AB相测试回路，控制待测断路器A、C极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的AC相测试回路，以及控制待测断路器B、C极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的BC相测试回路，所述PLC控制器控制所述换相机构的各测试回路切换导通，所述工控机检测到所述扩展控制器内记录的为恒流源无电流输出时，发出瞬动电流的启动指令控制大电流交流恒流源输出预期电流，通过所述工控机设置待测断路器的测试参数，所述工控机与PLC控制器连接，工控机向PLC控制器发出的断路器测试控制指令，PLC控制器根据断路器测试控制指令控制换相机构的各测试回路切换导通完成待测断路器的测试；所述换相机构包括交流接触器K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7，所述交流接触器K1和交流接触器K5串接于待测断路器的A极两侧形成所述A单相测试回路，所述交流接触器K2和交流接触器K5串接于待测断路器的B极两侧形成所述B单相测试回路，所述交流接触器K3和交流接触器K5串接于待测断路器的C极两侧形成所述C单相测试回路，所述交流接触器K4和交流接触器K5串接于待测断路器的N极两侧形成所述N单相测试回路，所述交流接触器K6一端连接于交流接触器K2和待测断路器的B极之间，交流接触器K6另一端连接大电流交流恒流源，交流接触器K6与待测断路器的B极并联，所述交流接触器K7的一端连接于交流接触器K1和待测断路器的A极之间，交流接触器K7的一端连接大电流交流恒流源，交流接触器K7与待测断路器的A极并联，单独闭合所述交流接触器K1和K6构成所述待测断路器的A、B极串接于大电流交流恒流源的AB相测试回路，单独闭合所述交流接触器K3和K6构成所述待测断路器的B、C极串接于大电流交流恒流源的BC相测试回路，单独闭合所述交流接触器K3和K7构成所述待测断路器的A、C极串接于大电流交流恒流源的AC相测试回路，PLC控制器控制所述交流接触器K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7闭合或断开。