[发明专利]大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备

权利要求书

1.一种大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，包括机架、断路器装载台以及测试系统，测试系统包括用于提供待测断路器测试电流的大电流交流恒流源，其特征在于：所述的大电流交流恒流源内设有扩展控制器，用于监测并存储大电流交流恒流源的电流输出状态，

所述测试系统还包括有工控机、PLC控制器、换相机构以及用于采集断路器瞬时特性数据的数据记录单元，数据记录单元与所述工控机连接实现待测断路器测试结果显示，

所述换相机构包括对应控制待测断路器A、B、C、N极单独接入大电流交流恒流源形成导通回路的A、B、C、N单相测试回路，控制待测断路器A、B极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的AB相测试回路，控制待测断路器A、C极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的AC相测试回路，以及控制待测断路器B、C极串联接入大电流交流恒流源形成导通回路的BC相测试回路，

所述PLC控制器控制所述换相机构的各测试回路切换导通，

所述工控机检测到所述扩展控制器内记录的为恒流源无电流输出时，发出瞬动电流的启动指令控制大电流交流恒流源输出预期电流，

通过所述工控机设置待测断路器的测试参数，所述工控机与PLC控制器连接，工控机向PLC控制器发出的断路器测试控制指令，PLC控制器根据断路器测试控制指令控制换相机构的各测试回路切换导通完成待测断路器的测试；

所述换相机构包括交流接触器K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7，所述交流接触器K1和交流接触器K5串接于待测断路器的A极两侧形成所述A单相测试回路，所述交流接触器K2和交流接触器K5串接于待测断路器的B极两侧形成所述B单相测试回路，所述交流接触器K3和交流接触器K5串接于待测断路器的C极两侧形成所述C单相测试回路，所述交流接触器K4和交流接触器K5串接于待测断路器的N极两侧形成所述N单相测试回路，所述交流接触器K6一端连接于交流接触器K2和待测断路器的B极之间，交流接触器K6另一端连接大电流交流恒流源，交流接触器K6与待测断路器的B极并联，所述交流接触器K7的一端连接于交流接触器K1和待测断路器的A极之间，交流接触器K7的一端连接大电流交流恒流源，交流接触器K7与待测断路器的A极并联，单独闭合所述交流接触器K1和K6构成所述待测断路器的A、B极串接于大电流交流恒流源的AB相测试回路，单独闭合所述交流接触器K3和K6构成所述待测断路器的B、C极串接于大电流交流恒流源的BC相测试回路，单独闭合所述交流接触器K3和K7构成所述待测断路器的A、C极串接于大电流交流恒流源的AC相测试回路，PLC控制器控制所述交流接触器K1、K2、K3、K4、K5、K6、K7闭合或断开。

2.根据权利要求1所述大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，其特征在于：所述断路器装载台与待测断路器接线端子电连接的上触头机构和下动触头机构，上触头机构包括前部导电端呈7字形的上夹持触头，下动触头机构包括前部导电端呈7字形的下动触头，下动触头呈前后伸缩滑移配合在机架上，机架背面安装有驱动下动触头的下动触头伸缩驱动组件，所述的机架上设有可升降的升降装载台，升降装载台包括有用于定位放置断路器的升降搁置板以及驱动升降搁置板升降的升降驱动装置，升降搁置板经导轨滑移配合在机架上，所述机架上具有供下动触头缩至升降搁置板升降轨迹后侧的让位通孔，让位通孔沿纵向延伸，下动触头可沿让位通孔升降活动，所述下动触头机构还包括有驱动下动触头沿让位通孔升降的下动触头升降驱动组件，所述下动触头具有下降至错开升降搁置板上升行程末端的第一位置以及上升至与升降搁置板上升行程末端对应位置的第二位置。

3.根据权利要求2所述大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，其特征在于：所述机架上具有供断路器背靠定位的定位背靠面，所述定位背靠面倾斜设置，定位背靠面横向一侧设有供断路器侧向抵靠定位的固定轨道板，固定轨道板沿着纵向延伸，所述升降搁置板上设有定位卡口，升降搁置板上定位卡口定位配合在固定轨道板上，升降搁置板经定位卡口滑移导向配合在固定轨道板上。

4.根据权利要求3所述大容量低压断路器瞬时动作特性测试设备，其特征在于：所述升降驱动装置包括第一升降气缸和第二升降气缸，第一升降气缸的气缸臂与升降搁置板固定连接，所述第二升降气缸固定安装在机架上，第二升降气缸的气缸臂上设有活动板，活动板经导轨沿纵向可滑移配合在机架上，所述第一升降气缸固定安装在活动板上。