[发明专利]一种白光干涉及激光扫描结合的形貌测量装置有效

专利信息
申请号: 201611062453.2 申请日: 2016-11-25
公开(公告)号: CN106595515B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 张效栋;房丰洲;曾臻;高慧敏;武光创 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种白光干涉及激光扫描结合的形貌测量装置,包括三维运动平台和置于其上的白光‑激光测量系统,测量系统包括白光光源(1)、三个分光棱镜、显微目镜(5)、显微物镜(6)、干涉物镜(7)、四象限光电传感器(8)、激光器(9)和图像传感器(10),具有两条测量光路和激光测量光路;激光测量光路为:由激光器(9)出发经第三分光棱镜(4)转折,通过显微物镜(6)聚焦至被测表面(11),经被测表面(11)反射后,分别经过显微物镜(6)、第三分光棱镜(4)和第二分光棱镜(3),投射至四象限光电传感器(8)用于被测表面(11)高度信息的测量;激光器(9经被测表面11反射回来的光通过第二分光棱镜(3)转折,通过第一分光棱镜(2)和显微目镜(5)后,和由白光光源(1)形成的照明背景光一起被成像至图像传感器(10),形成激光测量时的采集图。
搜索关键词: 一种 白光 涉及 激光 扫描 结合 形貌 测量 装置
【主权项】:
1.一种白光干涉及激光扫描结合的形貌测量装置,包括三维运动平台和置于其上的白光‑激光测量系统,其特征在于,白光‑激光测量系统包括白光光源(1)、三个分光棱镜、显微目镜(5)、显微物镜(6)、干涉物镜(7)、四象限光电传感器(8)、激光器(9)和图像传感器(10),具有两条测量光路和激光测量光路,其中,白光干涉测量光路为:由白光光源(1)发出光束平行投射到第一分光棱镜(2)后分成两束,第一束光被第一分光棱镜(2)转折90°经过干涉物镜(7)投射到被测表面(11),反射的光经干涉物镜(7)和第一分光棱镜(2)回到显微目镜(5),第一束光和其反射的光在显微目镜(5)视场中发生干涉,图像传感器(10)获取干涉条纹以获得待测区域的表面形貌信息;第二束光穿过第一分光棱镜(2),依次经过第二分光棱镜(3)、第三分光棱镜(4)和显微物镜(6),汇聚于被测表面(11),经被测表面(11)反射后分别经过显微物镜(6)、第三分光棱镜(4)、第二分光棱镜(3)、第一分光棱镜(2)和显微目镜(5),成像到图像传感器(10),负责为激光测量光路提供照明背景光;激光测量光路为:由激光器(9)出发经第三分光棱镜(4)转折,通过显微物镜(6)聚焦至被测表面(11),经被测表面(11)反射后,分别经过显微物镜(6)、第三分光棱镜(4)和第二分光棱镜(3),投射至四象限光电传感器(8)用于被测表面(11)高度信息的测量;激光器(9)经被测表面(11)反射回来的光通过第二分光棱镜(3)转折,通过第一分光棱镜(2)和显微目镜(5)后,和由白光光源(1)形成的照明背景光一起被成像至图像传感器(10),形成激光测量时的采集图。
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