[发明专利]一种耐高压的结型场效应管在审

专利信息
申请号: 201611051954.0 申请日: 2016-11-25
公开(公告)号: CN106549037A 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 李风浪;李舒歆 申请(专利权)人: 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/808
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 连平
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种结型场效应管,包括P型衬底;N型轻掺杂区;P型掺杂区;P型重掺杂区;N型重掺杂的漏区和源区;所述漏区与所述P型掺杂区之间的硅表面形成的第一绝缘隔离层;所述源区与所述P型掺杂区之间的硅表面形成的第二绝缘隔离层,所述第一绝缘隔离层形成在带有沟槽的硅表面上,所述第一绝缘隔离层上面部分覆盖掺杂多晶硅层,所述多晶硅层通过通孔引出与栅极电性连接。本发明的结型场效应管耐压性能得到有效提高。
搜索关键词: 一种 高压 场效应
【主权项】:
一种耐高压的结型场效应管,包括:P型衬底,所述P型衬底作为背栅;在所述P型衬底的上表层中形成N型轻掺杂区;在所述N型轻掺杂区的上表层中形成的P型掺杂区,所述P型掺杂区作为正栅;在所述P型掺杂区的上表层中形成的P型重掺杂区;在所述N型轻掺杂区的两端形成的N型重掺杂的漏区和源区,正栅靠近所述源区;所述漏区与所述P型掺杂区之间的硅表面形成的第一绝缘隔离层;所述源区与所述P型掺杂区之间的硅表面形成的第二绝缘隔离层,其特征在于:所述漏区与所述P型掺杂区之间的硅表面形成n个沟槽,n为正整数,所述第一绝缘隔离层形成在带有沟槽的硅表面上,所述第一绝缘隔离层上面部分覆盖掺杂多晶硅层,结型场效应管与所述P型衬底相对一侧的表面覆盖绝缘介质层,栅极通过通孔由P型重掺杂区引出,源极以及漏极分别通过通孔由源区以及漏区引出,所述多晶硅层通过通孔引出与栅极电性连接。
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