[发明专利]片上测试图案生成有效
| 申请号： | 201611051247.1 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107045100B | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | H·库克雷雅;S·阿马德 | 申请（专利权）人： | 麦利尔亚洲新加坡私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 申屠伟进;刘春元 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开片上测试图案生成。提供一种芯片(110)，其包括：集成电路(230)，所述集成电路(230)包括多个逻辑元件(231)，其中所述多个逻辑元件(231)被配置为在测试模式下形成多个扫描链(232)。芯片(110)进一步包括片上信号发生器(220)，其与集成电路(230)连接并且被配置为在测试模式下向所述多个扫描链(232)提供测试图案信号(281)。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 图案 生成 | ||
【主权项】：
一种芯片(110)，包括：‑集成电路(230)，其包括多个逻辑元件(231)，其中所述多个逻辑元件(231)被配置为在测试模式(1001)下形成多个扫描链(232)，‑片上信号发生器(220)，其与集成电路(230)连接并且被配置为在测试模式(1001)下向所述多个扫描链(232)提供测试图案信号(281、282)。
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