[发明专利]薄壁件形貌检测装置在审
申请号: | 201611051179.9 | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN106595514A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 方伟;肖文;黄稳;潘锋;刘思仁;伊小素 | 申请(专利权)人: | 中国商用飞机有限责任公司;上海飞机制造有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 苏娟,徐年康 |
地址: | 200126 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种薄壁件形貌检测装置,包括双波长激光器、第一分光棱镜、第二分光棱镜、第一光束准直器、第二光束准直器、反射镜、CMOS相机和放置台,由双波长激光器出射的光束经第一分光棱镜分成透射光束和反射光束,反射光束经反射镜和第二光束准直器照射置于放置台上的待测薄壁件,第二分光棱镜将待测薄壁件反射的物光束和经第一光束准直器出射的透射光束合光得到合并光束,CMOS相机接收合并光束。本发明的薄壁件形貌检测装置,通过利用数字全息技术进行薄壁件的形貌检测,能够以非接触方式获取物体三维信息,并用于获取双波长相干光记录的全息图,对观测样本影响非常小,且结构简单,尤其适用于大型民机的薄壁件的形貌检测。 | ||
搜索关键词: | 薄壁 形貌 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种薄壁件形貌检测装置,其特征在于,其包括双波长激光器、第一分光棱镜、第二分光棱镜、第一光束准直器、第二光束准直器、反射镜、CMOS相机和放置台,由所述双波长激光器出射的光束经第一分光棱镜分成透射光束和反射光束,所述反射光束经所述反射镜和第二光束准直器照射置于所述放置台上的待测薄壁件,第二分光棱镜将所述待测薄壁件反射的物光束和经第一光束准直器出射的透射光束合光得到合并光束,所述CMOS相机的光敏面接收所述合并光束。
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