[发明专利]一种折反射光学系统及折反射光学成像方法在审

专利信息
申请号: 201611047850.2 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN106597653A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 王丽萍;何锋赟;王君 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G02B17/08 分类号: G02B17/08
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种折反射光学系统,包括凸面反射镜和具有中心孔的凹面反射镜构成的共轴反射镜组,沿所述共轴反射镜组的光轴设置第一组中继镜,沿光路方向在所述第一组中继镜设置具有偏振调制功能的分光棱镜,沿所述分光棱镜的反射光路偏离所述光轴的位置设置反射光路探测器,沿所述分光棱镜的透射光路偏离光轴的位置设置透射光路探测器,通过采用本发明提供的折反射光学系统,采用可调制偏振状态的分光棱镜,结合两组偏轴中继镜将水平方向全视场信息分成两半,分别成像至两个探测器,增加了探测器面积提高系统分辨率,解决了探测器直接拼接导致图像信息缺失问题。本发明还提供了一种折反射光学成像方法。
搜索关键词: 一种 反射 光学系统 光学 成像 方法
【主权项】:
一种折反射光学系统,其特征在于,包括:凸面反射镜(1)和具有中心孔的凹面反射镜(2)构成的共轴反射镜组,沿所述共轴反射镜组的光轴设置第一组中继镜(3),沿光路方向在所述第一组中继镜(3)设置具有偏振调制功能的分光棱镜(4),沿所述分光棱镜(4)的反射光路偏离所述光轴的位置设置反射光路探测器(6),沿所述分光棱镜(4)的透射光路偏离光轴的位置设置透射光路探测器(8);全景光束入射到所述凹面反射镜(2)上,经过所述凹面反射镜(2)反射后入射到所述凸面反射镜(1)上再次反射,反射光束穿过所述凹面反射镜(2)的中心孔进入所述第一组中继镜(3),在所述第一组中继镜(3)的像面位置被所述分光棱镜(4)偏振调制并分为透射光路及反射光路,所述反射光路中第一光束进入所述反射光路探测器(6)进行成像,所述透射光路中第二光束进入所述透射光路探测器(8)进行成像。
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