[发明专利]一种折反射光学系统及折反射光学成像方法

权利要求书

1.一种折反射光学系统，其特征在于，包括：

凸面反射镜(1)和具有中心孔的凹面反射镜(2)构成的共轴反射镜组，沿所述共轴反射镜组的光轴设置第一组中继镜(3)，沿光路方向在所述第一组中继镜(3)设置具有偏振调制功能的分光棱镜(4)，沿所述分光棱镜(4)的反射光路偏离所述光轴的位置设置反射光路探测器(6)，沿所述分光棱镜(4)的透射光路偏离光轴的位置设置透射光路探测器(8)；

全景光束入射到所述凹面反射镜(2)上，经过所述凹面反射镜(2)反射后入射到所述凸面反射镜(1)上再次反射，反射光束穿过所述凹面反射镜(2)的中心孔进入所述第一组中继镜(3)，在所述第一组中继镜(3)的像面位置被所述分光棱镜(4)偏振调制并分为透射光路及反射光路，所述反射光路中第一光束进入所述反射光路探测器(6)进行成像，所述透射光路中第二光束进入所述透射光路探测器(8)进行成像。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，沿所述分光棱镜(4)的反射光路偏离所述光轴的位置还设置反射光路第二组中继镜(5)，所述反射光路中第一光束经所述反射光路第二组中继镜(5)进入所述反射光路探测器(6)进行成像。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，沿所述分光棱镜(4)的透射光路偏离光轴的位置还设置透射光路第二组中继镜(7)，所述透射光路中第二光束经所述透射光路第二组中继镜(7)进入所述透射光路探测器(8)进行成像。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述分光棱镜(4)的像面位置敷有半反半透膜。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反射光路探测器(6)和所述透射光路探测器(8)的照射方向互相垂直。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述分光棱镜(4)为直角棱镜。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述凸面反射镜(1)和所述凹面反射镜(2)的中心共线。

8.一种折反射光学成像方法，其特征在于，应用于如权利要求1至7中任一项所述的折反射光学系统，包括：

通过共模反射镜组进行全景光束的收集；

利用第一组中继镜成实像形成一次像面；

利用设置在所述一次像面处分光棱镜全景光束分为两半，分别为第一光束和第二光束；

将所述第一光束和所述第二光束通过第二组中继镜分别成像于所述反射光路探测器和所述透射光路探测器上。